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1 条评论
4个回答
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有需要用到电子元器件的，都可以加我聊下，我们做了十几年了，或者你在苦苦寻找的料我们刚好就有，虽然说几率可能很小，但起码还有！给我们一次机会，也给自己一次机会！2355348525
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2016-12-12 17:10:31
评论
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好像EOS哦
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你这个问题描述不清楚啊，所有出现的空洞都在通孔附近还是在只有这一个，如果都集中在通孔附近，那可能是通孔金属化未能很好被覆盖，导致里面出现缺陷而形成空洞，或者通孔加工之前存在其他异物造成。
如果只是少量，可能是金属化工艺存在缺陷，具体要看线宽，颗粒缺陷等要求。 信息太少，太难分析 |
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2017-6-4 16:52:32
评论
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只有小组成员才能发言，加入小组>>
【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块（MSP430F122+MAX491）
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