请问stm32f4中有ADC校准的函数吗？

STM32F4系列的微控制器确实有ADC校准功能。虽然在某些情况下，ADC校准可能不是必需的，但在某些应用中，进行校准可以提高测量精度。以下是如何使用STM32F4系列微控制器进行ADC校准的步骤：

1. 首先，确保您的STM32F4开发板已经连接到电源，并且已经烧录了适用于您的微控制器型号的固件。

2. 在您的项目中包含STM32F4系列的头文件。例如，如果您使用的是STM32F407微控制器，您需要包含以下头文件：
   ```c
   #include "stm32f4xx.h"
   ```

3. 初始化ADC。您需要配置ADC的时钟、通道、分辨率等参数。以下是一个初始化ADC的示例代码：
   ```c
   ADC_CommonInitTypeDef ADC_CommonInitStruct;
   ADC_InitTypeDef ADC_InitStructure;

   RCC_ADCCLKConfig(RCC_ADCPCLK2_DIV2); // 设置ADC时钟
   ADC_CommonInitStruct.ADC_Mode = ADC_Mode_Independent; // 独立模式
   ADC_CommonInitStruct.ADC_Prescaler = ADC_Prescaler_Div2; // 预分频器
   ADC_CommonInitStruct.ADC_DMAAccessMode = ADC_DMAAccessMode_Disabled; // DMA访问模式
   ADC_CommonInitStruct.ADC_TwoSamplingDelay = ADC_TwoSamplingDelay_5Cycles; // 双采样延迟
   ADC_CommonInit(&ADC_CommonInitStruct);

   ADC_InitStructure.ADC_Resolution = ADC_Resolution_12b; // 分辨率
   ADC_InitStructure.ADC_ScanConvMode = DISABLE; // 扫描转换模式
   ADC_InitStructure.ADC_ContinuousConvMode = ENABLE; // 连续转换模式
   ADC_InitStructure.ADC_ExternalTrigConv = ADC_SoftwareStart; // 外部触发转换
   ADC_InitStructure.ADC_DataAlign = ADC_DataAlign_Right; // 数据对齐
   ADC_InitStructure.ADC_NbrOfConversion = 1; // 转换次数
   ADC_Init(ADC1, &ADC_InitStructure);
   ```

4. 校准ADC。在开始ADC转换之前，您需要进行校准。以下是如何进行校准的示例代码：
   ```c
   ADC_Calibration_Start(ADC1); // 开始校准
   while (ADC_GetCalibrationStatus(ADC1) == RESET) // 等待校准完成
   {
   }
   ```

5. 现在，您可以开始使用ADC进行测量。例如，以下是一个读取ADC通道0的示例代码：
   ```c
   ADC_RegularChannelConfig(ADC1, ADC_Channel_0, 1, ADC_SampleTime_3Cycles); // 配置通道
   ADC_SoftwareStartConv(ADC1); // 启动软件转换
   while (!ADC_GetSoftwareStartConvStatus(ADC1)) // 等待转换完成
   {
   }
   uint16_t adcValue = ADC_GetConversionValue(ADC1); // 获取转换值
   ```

6. 根据需要处理ADC值。

请注意，这些代码示例仅供参考，您可能需要根据您的具体需求进行调整。在进行ADC校准时，请确保您的STM32F4微控制器已经正确配置，并遵循数据手册中的建议。

我也找过，stm32f4xx.c里根本没有校验相关函数