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单其莹

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ADXL001-70BEZ芯片在静止时存在峰峰值超过100mV的噪声干扰

参照ADXL001的datasheet进行了PCB设计,去耦电容100nF,输出滤波电容1nF,原理图如下:

测试环境:
电源:采用三节干电池供电,电压约4V
测试点:直接在PCB上接线端子(XOUT、GND)处进行测量
仪器:Tek TBS1102B示波器
测试结果:
1. 将时间调为5ms/div,当传感器静止不动时,噪声峰峰值超过100mV;
2. 将时间调为25us/div,10us/div,当传感器静止不动时,能看出周期性较强的信号,但存在多种频率成分;
3. 将时间调为1us/div,当传感器静止不动时,能看出周期性较强的信号,约为500kHz。
信号波形为后图中的黄色波形(蓝色为其他信号,勿参考)。




进行了三片芯片的测试,现象基本一致,只是幅值略有不同,与datasheet上的描述值完全不同,不知是何原因,请高人指点。

回帖(4)

刘悦竹

2018-8-17 06:30:52
1. 建议用外部的线性电源给ADXL001供电,看看噪声是否会有改善。
2. 满电的干电池应该是1.6V左右,所以三节应该是5V左右,电压越高,噪声性能会越好。
3. 基于现有电源设计,可以考虑给电源的去耦电容C1再并联一个4.7uF的电容。
4. 测量器件的噪声,最好用RMS均方根值而不是峰峰值,尤其对MEMS器件来说,因为任何外界的振动都会峰峰值的结果产生较大影响。
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单其莹

2018-8-17 06:46:13
引用: minwayson 发表于 2018-8-17 06:30
1. 建议用外部的线性电源给ADXL001供电,看看噪声是否会有改善。
2. 满电的干电池应该是1.6V左右,所以三节应该是5V左右,电压越高,噪声性能会越好。
3. 基于现有电源设计,可以考虑给电源的去耦电容C1再并联一个4.7uF的电容。

1. 使用线性电源进行了测试,噪声无明显改善;
2. 我所使用的干电池并非是新的,用万用表实测为4V左右,满足datasheet中的电源要求;
3. 并联了4.7uF的去耦电容后也无明显改善;
4. 目前手中没有有效的方法可以对噪声的均方根值进行测量,但经过大致估算,我实测芯片的噪声远大于datasheet中的标称值。
5. 经过反复分析,目前怀疑该噪声由芯片内部产生,但datasheet中并没有对典型波形的说明,也没有找到更详细的芯片资料,不知道贵公司是否有该芯片更详细的资料?
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陈小鸥

2018-8-17 07:04:53
引用: minwayson 发表于 2018-8-17 06:30
1. 建议用外部的线性电源给ADXL001供电,看看噪声是否会有改善。
2. 满电的干电池应该是1.6V左右,所以三节应该是5V左右,电压越高,噪声性能会越好。
3. 基于现有电源设计,可以考虑给电源的去耦电容C1再并联一个4.7uF的电容。

我也有类似的问题。采用的是ADXL001-70Z   CN0303采集板  和推荐的EVAL-SDP-CB1Z 控制板。
 
在传感器静止不动的情况下,输出电压一直存在60mv的噪音,远高于datasheet给出的噪音水平。拿掉传感器,整个数采板的噪音为1mv左右;
测量了cn0303的输出5V电源噪音为20mv?
 
请问datasheet给出的芯片噪音水平是否准确?或者有何方法能降低噪音?
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单其莹

2018-8-17 07:20:34
引用: minwayson 发表于 2018-8-17 06:30
1. 建议用外部的线性电源给ADXL001供电,看看噪声是否会有改善。
2. 满电的干电池应该是1.6V左右,所以三节应该是5V左右,电压越高,噪声性能会越好。
3. 基于现有电源设计,可以考虑给电源的去耦电容C1再并联一个4.7uF的电容。

最近购买了EVAL-ADXL001-70Z评估板进行了测试,根据datasheet将输出的RC滤波设置成截止频率75k的低通滤波器,采用5V线性电源供电,直接使用示波器测量输出波形,结果如下:

怀疑该噪声为芯片内部的固有噪声,这对我们使用该芯片产生了很大疑惑:由于噪声较大,将影响基于该芯片的设备检测效果,但我们并不知道如何进一步改进。不知道贵公司有没有该芯片典型应用、典型噪声波形及典型信号波形的相关资料,方便用户们参考呢?
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