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晶振检验电路原理图

2008-10-16 12:40:36 6120

0 晶振检验电路原理图晶振检验器电路可检验任何频率的晶振但其最佳的工作状态是在 3---10MHz 范围内。使用一般的万用表是不能测出晶振的好坏的，这里提供了一种简单而实用的ticle/88/131/190/2007/200712036203.html">晶振检验器，它只采用一个 N 沟道结型场效应管（FET），两个普通 NPN 小功率晶体三极管，一个发光管和一些阻容元件，便可有效的检验任何晶振的好坏。　　晶振检验器电路，2N3823 结型 N 沟道场效应管（可用任何其它型号的同类小功率场效应管，如 3DJ6，3DJ7 等）与被测晶体（晶振）等组成一个振荡器，两个两个 NPN 三极管 2N3904（也可用其它任何型号的小功率 NPN 三极管）接成复合检波放大器，驱动发光二极管 LED。若被测晶振良好时，振荡器起振，其振荡信号经 0.01uF 的电容耦合至检波放大器的输入端，经放大后驱动发光二极管发光。如果被测晶振不好，则晶振不起振，发光二极管就不发光。 0
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