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晶振检验电路原理图

2008-10-16 12:40:36  5124
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<p><font face="Verdana">晶振检验电路原理图</font><br/></p>
<p>&nbsp;</p> 晶振检验电路原理图 <br/>
<p><font face="Verdana">晶振检验器电路</font>可检验任何频率的晶振但其最佳的工作状态是在 3---10MHz 范围内。 </p>
<p>使用一般的万用表是不能测出晶振的好坏的,这里提供了一种简单而实用的<a href="https://www.elecfans.com/article/88/131/190/2007/200712036203.html">晶振检验器</a>,它只采用一个 N 沟道结型场效应管(FET),两个普通 NPN 小功率晶体三极管,一个发光管和一些阻容元件,便可有效的检验任何晶振的好坏。 <br/>  <font face="Verdana">晶振检验器电路</font>,<a href="https://www.elecfans.com/soft/39/2008/200807084762.html">2N3823</a> 结型 N 沟道场效应管(可用任何其它型号的同类小功率场效应管,如 3DJ6,3DJ7 等)与被测晶体(晶振)等组成一个振荡器,两个两个 NPN 三极管 <a href="https://www.elecfans.com/soft/39/2008/200807084765.html">2N3904</a>(也可用其它任何型号的小功率 NPN 三极管)接成复合检波放大器,驱动发光二极管 LED。若被测晶振良好时,振荡器起振,其振荡信号经 0.01uF 的电容合至检波放大器的输入端,经放大后驱动发光二极管发光。如果被测晶振不好,则晶振不起振,发光二极管就不发光。 <br/></p>
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· 2011-10-24 21:13:54
很早以前的电路了。
· 2019-11-12 09:35:29
谢谢分享  学习!

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