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<p><font face="Verdana">晶振检验电路原理图</font><br/></p>
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<p><font face="Verdana">晶振检验器电路</font>可检验任何频率的晶振但其最佳的工作状态是在 3---10MHz 范围内。 </p> <p>使用一般的万用表是不能测出晶振的好坏的，这里提供了一种简单而实用的<a href="https://www.elecfans.com/article/88/131/190/2007/200712036203.html">晶振检验器</a>，它只采用一个 N 沟道结型场效应管（FET），两个普通 NPN 小功率晶体三极管，一个发光管和一些阻容元件，便可有效的检验任何晶振的好坏。 <br/> <font face="Verdana">晶振检验器电路</font>，<a href="https://www.elecfans.com/soft/39/2008/200807084762.html">2N3823</a> 结型 N 沟道场效应管（可用任何其它型号的同类小功率场效应管，如 3DJ6，3DJ7 等）与被测晶体（晶振）等组成一个振荡器，两个两个 NPN 三极管 <a href="https://www.elecfans.com/soft/39/2008/200807084765.html">2N3904</a>（也可用其它任何型号的小功率 NPN 三极管）接成复合检波放大器，驱动发光二极管 LED。若被测晶振良好时，振荡器起振，其振荡信号经 0.01uF 的电容耦合至检波放大器的输入端，经放大后驱动发光二极管发光。如果被测晶振不好，则晶振不起振，发光二极管就不发光。 <br/></p> 
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