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| 说明:在ZN-X上有一圈LED,它们不光只是为了好看和趣味性,它们每一个LED都与板上的关键信号相连,LED的亮灭可以反映出单片机对这些关键信号的控制是否正常。 测试方法:依次点亮这些LED,肉眼观察是否有不亮的。LED组成了一个环,振南把这种测试方法称为“环测”或者“环状流水灯”。“环测”通过之后,说明单片机与外围功能模块之间的关键信号的连接是OK的。 |
| 说明:对ZN-X上的第一个SD卡进行扇区读写测试。扇区读写是进一步进行文件系统移植和应用的基础,想使用振南的znFAT,这一测试必须通过。 测试方法:先向SD卡1的999扇区写入512字节数据,然后再将此扇区数据读出,比较数据是否一致。 注:不同的SD卡,在初始化的时候对SPI的速度要求不同,有的速度可以高一些,有的则不能太高。所以在测试中,可以对SD卡初始化的速度进行调节。 |
| 同上。 注:ZN-X上有两个SD卡接口,可以同时插接两个SD卡模块。1、因为SD卡是振南开发板上的重头,它围绕文件系统znFAT有大量的应用实验。两个SD卡接口是为了防止其中一个损坏或另有它用之后,还有候补可用。2、两个SD卡之间可以作一些【跨卡】的实验,比如卡卡之间拷贝文件、znFAT同时挂载多张SD卡的实验,这样可以把znFAT和文件系统的应用作得更全面更深入。 |
| 说明:ZN-X上有一个MP3解码播放模块,同时它还可以进行录音。单片机只需要将MP3等音频文件的数据写入到VS1003中,即可实现播放;录音功能,VS1003可以将声音编码为ADPCM,单片机可读出存为WAV文件。 测试方法: 播放功能,如果要向VS1003写入MP3数据,我们就要去准备这个数据,涉及到数据存储,虽然可以把它存到SD卡或Flash中,但是这个步骤比较繁琐。我们使用VS1003内置的正弦音测试,它内部可以产生某一频率的正弦信号,让它通过解码,再通过模拟通道(音频DAC输出),最终播放出来,我们可以从耳机中听到频率对应的尖锐声音。通过这种方法可以简单测试解码播放功能。 录音功能,VS1003在使能录音功能之后,可以从耳机中听到麦克所拾获的声音,这被称为 LOOPBACK。 |
| 说明:ZN-X上是支持多种尺寸分辨率,多种接口的TFT液晶模块的。这里着重对ILI9325控制器的320X240分辨率的TFT模块进行测试。 测试方法:首先分别测试竖屏与横屏模式下的刷屏,然后显示一幅简单的图片(图片数据内置于单片机ROM中)。测试中可以指定刷屏颜色,或者以色块方式刷屏。 |
| 说明:ZN-X上有5个独立按钮,他们分别与P1端口的几个IO相连,可以用于作简单的控制和交互。 测试方法:依次按下5个按键,以确认按键是否OK |
| 说明:ZN-X上有摄像头模块,它采用OV7670+FIFO的方式,这样就可以让51这种低端低速的单片机也可以获取到图像。 测试方法:51读取摄像头的图像实时的显示在TFT液晶上。这种测试方法,有一定局限性,也就是必须要搭配TFT液晶才能完成。因此,振南设计了无需TFT的测试方法,51读取摄像头模块图像,转为BMP文件格式,直接通过串口上传给PC,PC存为图片,可直接打开看到图像。 |
| 说明:DS18B20是经典的初学者必学的温度传感器 测试方法:读取温度值实时显示出来 |
| 说明:PCF8563是经典的RTC芯片,即实时钟,它可以为我们提供年月日时分秒时间信息 测试方法:PCF8563常见的问题是晶振不起振,从而导致时间不走。所以,我们可以用程序检测时间秒是否变化,如果在5秒钟内,秒一直没有变化,则认识有问题。另外我们还可以读取PCF8563的时间信息显示出来,也可以向它设置新的时间。 |
| 说明:AT24C64是容量为8KB的EEPROM芯片,通常用于存储一些小数据量的信息,比如ID号、字符串等。 测试方法:我们选取某一个地址,先向它写入一个字节,然后再读取这个地址,比较数据是否一致。 很多时候我们需要把数据烧录到EERPOM中,比如一些字模、素材、声音、图片等等。所以在AT24C64的测试中,附加了这些烧录和读取数据的功能。可以通过串口将PC上的文件下载到AT24C64中,或者将AT24C64中的数据上传到PC。同时还可以随意查看某个地址上的若干字节的内容,或向指定的地址写入字节。 |
| 说明:AT45DB161是容量为2MB的FlashROM,它的数据被组织成扇区或数据块的形式,通过ATMEL的缓冲技术,可以实现对它的单个字节的读写操作。 测试方法:选取某一地址,向写入若干个字节,然后再从这个地址读取数据,比较数据是否一致。 同样,对于AT45DB161也附加了数据的下载和上传功能。也可以向指定地址写入字节,或查看某个地址上的数据。 |
| 说明:TLC549是一颗8位ADC。 测试方法:不断读取ADC的值,调节电位器,观察ADC值是否相应变化。 |
| 说明:TLC5615是一颗10位DAC。 测试方法:在DAC输出上产生一个锯齿波,观察LED的明暗变化。附加功能:产生一个给定的电压。 |
| 说明:ZN-X的基础模块上有一个16X16的LED点阵屏。用它可以一些简单的字符图案的显示,以及滚动效果。 测试方法:在点阵屏上显示一些简单的演示效果,观察是否显示正常。附加功能:可以随意点亮某一个或多个LED点。 |
| 说明:4位数码管,可以显示4位10进制数或浮点数。 测试方法:在4位数码管的每一位上循环显示0-9这十个数。也可以显示指定的某一个数值。 |
| 说明:ZN-X上的TFT液晶是有触摸功能的,这样可以实现较为复杂的人机交互。 测试方法:读取触摸芯片的坐标数据,实时地显示出来。观察数据变化是否与触摸的位置同步。 |
| 说明:ZN-X上是可以接以太网ENC28J60模块的,通过它网络的世界就此打开。 测试方法:此测试不涉及TCP/IP方面的测试,只是对ENC28J60的接口和硬件进行基础的硬件测试,以确保芯片是完好的。 |
| 说明:ZN-X是可以进行RF射频无线通信的,模块使用NRF24L01+芯片。 测试方法:初步地进行硬件接口和芯片的测试。然后可进行简单的数据通信测试:一个为发射,一个为接收,完成一个数据包的收发和验证,即说明数据通信成功。 |