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测试探针是ICT/FCT测试针、BGA探针、高频探针、高电流探针的统一的叫法,无论什么探针都会有自己的寿命,探针的图册上一般都有自己的寿命,这个主要取决于弹簧的寿命。那么影响测试探针寿命的因素都有哪些呢?这里笔者为大家简要介绍一下,影响测试探针寿命的因素。
先说常规ICT/FCT探针,这类探针通常寿命在30万次左右,但是寿命往往都是由测试环境决定的,如果测试环境比较差,各种杂质进入探针内管,就会造成弹簧损坏,这样就必须要更换探针。这种是小部分更换,还有一种是定期对探针进行更换,当使用到一定的时间后,探针就必须要更换。如果是高频探针的话,这个比较特殊,高频探针主要在于高频针的内芯针,所以高频探针更换一般都是将内芯针进行更换,这样可大大降低成本。 正常情况下,越细的探针相对来说就越短,所以正常探针的寿命都是接近于厂商给出的理论寿命。对治具维护保养做的好,以及治具测试的板子的清洁度高,按照探针规定的行程进行测试,这样探针的更换频次就低。 |
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