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边界扫描测试技术简介及原理

2009-10-15 09:32:16 4528

0 边界扫描测试技术简介及原理 1times New="New" Roman'; mso-hansi-font-family: 'Times New="New" Roman'">．简介 JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行动小组)是1985年制定的检测PCB和IC芯片的一个标准，1990年被修改后成为IEEE的一个标准，即IEEE1149.1-1990。IEEE 1149.1标准就是由JTAG这个组织最初提出的，最终由IEEE批准并且标准化的。所以，这个IEEE 1149.1这个标准一般也俗称JTAG调试标准。 JTAG最初是用来对芯片进行测试的，基本原理是在器件内部定义一个TAP（Test Access Port 测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。现在，JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmable 在线编程），对FLASH等器件进行编程。具有JTAG接口的芯片,相关JTAG引脚的定义为: TCK为测试时钟输入； TDI为测试数据输入，数据通过TDI引脚输入JTAG接口； TDO为测试数据输出，数据通过TDO引脚从JTAG接口输出； TMS为测试模式选择，TMS用来设置JTAG接口处于某种特定的测试模式； TRST为测试复位，输入引脚，低电平有效。 hi8xOoAK.doc (53 KB, 下载次数: 7 ) 0
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