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AM335x本身带有ADC。采用的是12位SAR ADC的采样速率为200kSPS。ADC采样的模拟信号时开始 转换为高，并继续采样1个时钟周期后的下降沿。它捕获的结尾处的信号采样周期和启动转换。它使用12个时钟周期，以数字化的采样输入，然后一端转换信号被使能为高，表明数字数据ADCOUT<11:0>是准备被锁存。在以前的数据被锁存后，一个新的转换周期开始。 此时ADC输出为正的二进制加权数据。 TSC_ADC_SS（Touchscreen_ADC_subsystem）是一个8通道通用ADC，可选支持交错式触摸屏转换。这个TSC_ADC_SS可以使用在配置在下列的应用程序选项： •8个通用ADC通道 •4线TS，4个通用ADC通道 •5线TS，3个通用ADC通道 •8线TS ADC驱动的局限性： 没有硬件触发支持，只能使用软件触发； 在连续捕获模式下每个捕获只能支持1528个采样； 在连续捕获模式下最大采样率：8K/s； 不支持多通道同步捕获，当前支持每一时刻一个单通道连续捕获； 驱动不支持超出量程的测量。 驱动配置： 你可以使能ADC驱动，如下的内核配置： 
将驱动编译进内核。 要测试ADC，连接一个直流电压，供给到每个在AIN0通过AIN7脚，并改变电压介于0和1.8V和通过sysfs变化的采样值。 注意确保不跨越1.8V的供电电压。 当载入模块的时候创建IIO设备：
Scan_elements文件夹包括许多元素的接口，它们被捕获到缓存里面。
读取模拟转换后的值，使用sysfs入口。 要进行交叉验证读取的数字值， 读值AIN4通道的输入电压为0.290V Vin =0.289*（2^12-1）/1.8 Vin= 659 从sysfs读出的数据：
可以看出，理论值和实际测得值是一致的。 
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