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高速电路PCB板级设计技巧
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改进电路设计规程提高可测试性 随着微型化程度不断提高，元件和布线技术也取得巨大发展，例如BGA外壳封装的高集 成度的微型IC，以及导体之间的绝缘间距缩小到0.5mm，这些仅是其中的两个例子。电子元 件的布线设计方式，对以后制作流程中的测试能否很好进行，影响越来越大。下面介绍几种 重要规则及实用提示。 通过遵守一定的规程（DFT-Design for Testability，可测试的设计），可以减少生 产测试的准备和实施费用。这些规程已经过多年发展，当然，若采用新的生产技术和元件技 术，它们也要相应的扩展和适应。随着电子产品结构尺寸越来越小，目前出现了两个特别引 人注目的问题：一是可接触的电路节点越来越少；二是像在线测试（In-Circuit-Test）这 些方法的应用受到限制。为了解决这些问题，可以在电路布局上采取相应的措施，采用新的 测试方法和采用创新性适配器解决方案。第二个问题的解决还涉及到使原来作为独立工序使 用的测试系统承担附加任务。这些任务包括通过测试系统对存储器组件进行编程或者实行集 成化的元器件自测试（Built-in Self Test，BIST，内建的自测试）。将这些步骤转移到测 试系统中去，总起来看，还是创造了更多的附加价值。为了顺利地实施这些措施，在产品科 研开发阶段，就必须有相应的考虑。 1、什么是可测试性 可测试性的意义可理解为：测试工程师可以用尽可能简单的方法来检测某种元件的特性， 看它能否满足预期的功能。简单地讲就是： l 检测产品是否符合技术规范的方法简单化到什么程度？ l 编制测试程序能快到什么程度？ l 发现产品故障全面化到什么程度？ l 接入测试点的方法简单化到什么程度？ 为了达到良好的可测试必须考虑机械方面和电气方面的设计规程。当然，要达到最佳的 可测试性，需要付出一定代价，但对整个工艺流程来说，它具有一系列的好处，因此是产品 能否成功生产的重要前提。 2、为什么要发展测试友好技术 过去，若某一产品在上一测试点不能测试，那么这个问题就被简单地推移到直一个测试 点上去。如果产品缺陷在生产测试中不能发现，则此缺陷的识别与诊断也会简单地被推移到 功能和系统测试中去。 相反地，今天人们试图尽可能提前发现缺陷，它的好处不仅仅是成本低，更重要的是今 天的产品非常复杂，某些制造缺陷在功能测试中可能根本检查不出来。例如某些要预先装软 件或编程的元件，就存在这样的问题。（如快闪存储器或ISPs：In-System Programmable Devices 系统内可编程器件）。这些元件的编程必须在研制开发阶段就计划好，而测试系统 也必须掌握这种编程。 测试友好的电路设计要费一些钱，然而，测试困难的电路设计费的钱会更多。测试本身 是有成本的，测试成本随着测试级数的增加而加大；从在线测试到功能测试以及系统测试， 测试费用越来越大。如果跳过其中一项测试，所耗费用甚至会更大。一般的规则是每增加一 
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