上面的图就3个部分:被检测 电路、检测信号输出电路和信号采集电路。被检测电路中S1、S2、S3三个开关在不同的位置,信号采集电路采集的3个逻辑值都会不一样,这里就不具体分析了。目前这张图还有一个问题:被检测电路中的+24V_ZD受其他开关控制,电路中没有画出来。当S1、S3向下闭合,S2闭合时,信号采集电路中的+24V会通过光耦U1、U2的发光二极管串到被检测电路中影响+24V_ZD。请问有没有什么办法规避这个问题?前提是被检测电路不能改动。
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本帖最后由 gk320830 于 2015-3-6 04:12 编辑
复杂啊,费解啊
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真没人看吗?
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求解啊
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兄弟语言表达实在不敢恭维,看了五分钟才明白你要干什么。。。。
1. +24V不会通过U2对+24_ZD产生影响,
2. XHC_F使用U3的接法,不过一定会牵一发而动全身,影响整个检查结果。
建议:
从新设计,
1.问题四个输入信号,中间三个开关八种组合,3个输出8种组合,正好可以匹配你的开关设置组合。
2.先画一个表,把逻辑搞清楚,什么样的输入组合能得到你期望的输出组合,然后确定开关组合。
3.然后再考虑电路设计。
希望对你有帮助!
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本帖最后由 sxxyyanjj 于 2014-1-9 11:19 编辑
好吧,我没有贴完整的电路图,还是谢谢你咯。附件是比较完整的电路图,如果时间充足的话可以看下,在一些条件下,+24V对+24V_ZD是有影响的.
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不错!
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没装Altium Designer 看不了图。。。。
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