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晶振测试通常会进行一下参数测试: · 震荡频率(Freq_osc ) · 谐振电阻(Ri) · 频率精度(Freq_ppm) · 测试频率范围(10kHz~10MHz) 其中谐振阻抗测试是比较难以测试到的重要参数; BW-4022C 半导体综合测试系统采用大规模 32 位 ARM&MCU 设计, PC 中文操作界面,程控软件基于 Lab VIEW 平台, 填充调用式菜单操作界面,测试界面简洁 灵活、人机界面友好。配合开尔文综合集成测试插座,根据不同器件更换测试座配合,系统可适配设置完成对二极管、光电耦合器、压敏电阻、锂亚电池、晶振5种元件的静态参数测试。 该测试系统主要由测试主机和程控电脑及外部测试夹具三部分组成,并接受客户端MES系统进行测试指令:方案选取/开始/暂停/停止/数据上传等操作执行,并可将测试数据上传至MES系统由客户端处理;详细参数请询问厂家索要。 |
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