为什么T4240的HRESET引脚总是低电平？

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针对T4240的HRESET_B引脚持续低电平问题，可能的原因及解决方案如下：

1. 硬件连接问题排查

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  短路或虚焊：

  
  
  
  
  • 使用万用表测量HRESET_B引脚对地阻抗，确认是否存在短路（阻抗接近0Ω）。
  
  
  • 检查PCB走线是否有与地平面意外接触，尤其是过孔或密集布线区域。
  
  
  • 重新焊接T4240芯片或HRESET_B相关焊点，排除虚焊可能。
  
  
  
  


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  上拉电阻配置：

  
  
  
  
  • 确认4.7kΩ上拉电阻连接至正确的电源轨（如DDR_VDD或SOC_VDD，具体参考手册）。
  
  
  • 测量上拉点电压是否达到预期值（如1.8V/3.3V），若电压不足需检查电源完整性。
  
  
  • 建议并联0.1μF去耦电容，消除高频干扰导致的误触发。
  
  
  
  

2. 复位时序验证

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  时序参数检查：

  
  
  
  
  • 使用示波器捕获PORESET与HRESET_B的时序关系，确保满足手册要求（例如PORESET释放后需延迟tRST≥100ms才能释放HRESET）。
  
  
  • 检查CPLD生成的复位序列是否符合图1所示时序：
    

    VDD稳定 -> PORESET拉低至少tPOW_STABLE -> PORESET释放 -> 延迟tHRST_DELAY -> HRESET释放

  
  
  • 重点测量tHRST_MIN（最小有效时间）和tHRST_REL（释放延迟）是否符合规格。
  
  
  
  


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  复位源冲突：

  
  
  
  
  • 确认除CPLD外，其他复位源（如JTAG、看门狗、PMIC）未意外激活。
  
  
  • 断开所有外部复位源，仅保留CPLD控制，观察是否恢复正常。
  
  
  
  

3. 配置字(RCW)关键项核查

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  启动配置验证：

  
  
  
  
  • 确保RCW_SRC[0:5]正确设置为所需启动介质（如NOR Flash=0x0A，SDHC=0x15）。
  
  
  • 检查RCW的时钟配置（PLL_CRGCLK、SYSCLK），错误的时钟分频会导致内核无法启动。
  
  
  • 使用JTAG读取RCW寄存器，确认实际加载值与预期一致。
  
  
  
  


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  调试接口影响：

  
  
  
  
  • 当连接JTAG调试器时，某些工具会强制保持HRESET低。断开调试接口后重新上电测试。
  
  
  • 检查BOOTMOD[0:1]引脚状态，确保未进入调试模式（如LIMP MODE需特定电平组合）。
  
  
  
  

4. 电源与时钟完整性分析

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  电源轨监测：

  
  
  
  
  • 使用动态探头测量核心电压（VDD_CORE）在上电期间的波形，确认无跌落（要求纹波<±3%）。
  
  
  • 检查PMIC的Power Good信号是否正常，PG无效会导致HRESET被内部锁定。
  
  
  
  


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  时钟质量测试：

  
  
  
  
  • 测量SYSCLK输入频率稳定性，25MHz时钟需满足±100ppm精度。
  
  
  • 检查时钟使能信号（CLK_EN）是否在PORESET释放后有效。
  
  
  
  

5. 进阶诊断步骤

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  热复位测试：

  
  
  
  
  • 在系统启动后，通过CPLD触发软复位（HRESET_B置低>10ms），观察能否恢复高电平。
  
  
  • 若热复位有效，则问题可能出在冷启动阶段配置加载过程。
  
  
  
  


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  最小系统验证：

  
  
  
  
  • 移除所有外设（DDR、Flash、PHY等），仅保留电源、时钟、复位电路。
  
  
  • 测量HRESET_B在此状态下的行为，若恢复高电平则逐步添加外设定位故障点。
  
  
  
  

6. 数据手册关键点参考

• 复位状态机：
  
  
  
  • T4240需要依次完成以下步骤才会释放HRESET：
    
    
    
    1. 检测有效RCW
    
    
    2. 初始化PLL并锁定
    
    
    3. 完成DDR训练（若配置）
    
    
    4. 执行预引导代码（PBL）
    
    
  
  
  • 任一阶段失败都会导致HRESET保持低，建议通过U-Boot的early debug输出定位阻塞点。
  
  

建议按照以上步骤系统性排查，重点关注复位时序与RCW配置。若问题仍未解决，可联系NXP FAE获取芯片内部状态寄存器的调试方法。