BW-AH-5520”是针对半导体分立器件在线高精度高低温温度实验系统专用设备

半导体高精度自动温度实验系统

BW-AH-5520

###产品名称：半导体高精度自动温度实验系统

品牌：博微电通

名称：半导体高精度自动温度实验系统

型号：BW-AH-5520

用途：

采用特殊的结构设计，保证待测元器件区域温度高稳定度及均匀度。采用双高精度 RTD 温度传感器进行精密控温及过温保护，并具有多重保护功能，可以对器件在不同温度下的性能进行精密测量分析及筛选。

产品电气参数

配置规格

外形尺寸： 55W95D120H (cm)

产品质量：＜200kg

电网环境：380VAC/50Hz，3 相 5线，35A/相

温度范围：-55°C150°C（水冷式或风冷式） -65°C150°C（LN2制冷） 200°C（选配）

温度精度： +/-0.1°C （-55°C150°C） +/-0.8°C （150°C200°C） 温度分辨率： 0.01°C

测试圈：4英寸/8英寸；工位数：49/98个

制冷机组：法国泰康

制冷方式：MR机械制冷(风冷/水冷)或LN2制冷

盖子高度：10cm(4”标配) 15cm/20cm(6”& 8”选配)

远程接口：RS-232/Ethernet

显示控制： 7”高清电容触摸屏

冷却水RCW：17-25°C软化水 压力：0.3-1MPa 流量：8升/分钟

产品特点

【49/98工位. 3Pin】

【温补晶振补偿电压自动测试分析】

【美国??SA4220MR完全替代产品】

【独创的圆形内腔轴对称设计，循环气流控制技术-Leaded驱动测试环】

1、创新性的圆形内腔轴对称设计，循环气流控制，保证待测器件区域温度的高精密稳定度及均匀度。

2、适用于DIP, SMD等各种封装的小型电子元件、分立器件、集成电路等精密在线高低温测试。

3、精密步进电机驱动实现自动过程测试（Leaded驱动环）。

4、根据待测器件封装形式及规格可自定义温测圈的工位。

5、测试试验箱测试腔体上盖可以自动电动升降，方便取放温测圈，保障测安全。

6、每批次器件测量同配置参数、同工位、同温度测点、准确测量器件的温度特性，参数可进行批次同比环比分析。

7、配置RS-232接口及Ethernet接口，可实现远程自动控制。

可针对以下封装的半导体器件进行高精度自动温度实验测量

(1)石英晶体谐振器、振荡器

(2)电阻、电容、电感

(3)二极管、三极管、场效应管(MOSFET)、IGBT、SCR

(4)光电耦合器

(5)MEMS

(6)声表面波器件(SAW Device)

(7)集成电路

BW-AH-5520半导体高精度自动温度实验系统具备风冷式，水冷式，液氮制冷式冷却方式；主要是用来对各种元器件及芯片等性能参数在全温度范围内、实现精密在线测试。