基于Mul tisim 10的 电子电路可靠性研究
利用Multisim 10平台进行电子电路设计的可靠性研究,可以有效地解决传统分析方法难以对电子电路设计进行容差精确分析的技术问题。方法为统计取样法,其理论基础是概率论中的大数定理,基本原理是根据指定的分布规律在器件参数容差范围内随机地选取元器件及电路工作条件参数,再经大量计算,分析出电路性能的统计规律。通过实例,说明应用Multisim 10进行***分析和最坏情况分析的方法和步骤,呈现出Multisim 10在电子电路设计的可靠性研究中出色的应用效果和广阔的应用前景。
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本来是来学习LZ如何应用Mutisim解决可靠性问题的.是不是LZ有所保留.请教所放出的FZ图是不是有问题?1875T输出节点4已经接了地,不用看,也不会有输出的.
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就斤斤计较斤斤计较斤斤计较斤斤计较斤斤计较斤斤计较斤斤计较斤斤计较
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