[问答]

STM32矩阵按键造成IO口的损坏的原因？

问答对人有帮助，内容完整，我也想知道答案 0 看了网上的4*4矩阵按键，不带外部中断，可实现多个按键同时按下。发现行线都配置成GPIO_Mode_Out_PP推挽输出，我认为当同一个列线上有两个按键同时按下时就会出现问题。因为矩阵按键必然存在行线有高电平也有低电平的情况，而接在一个行线上的两个按键按下，就使得推挽输出高电平和低电平的IO口通过按键短路，造成IO口的损坏。所以行线配置成GPIO_Mode_Out_OD开漏输出，然后在列线上加上拉电阻来做矩阵按键更为合理。 0 本主题由 Harmony技术专家于 2024-5-17 15:18 审核通过
2024-5-17 06:02:53　　评论淘帖0 邀请回答您可以邀请以下用户，快速回答问题 × heks 该类别下有 50 个回答。邀请回答 hgimtk 该类别下有 44 个回答。邀请回答新星之火12138 该类别下有 42 个回答。邀请回答 wang21cj 该类别下有 41 个回答。邀请回答 chm5 该类别下有 40 个回答。邀请回答 hjfjsdgfjdsf 该类别下有 37 个回答。邀请回答 fdjslkjd 该类别下有 35 个回答。邀请回答 uvysdfydad 该类别下有 35 个回答。邀请回答 werywer 该类别下有 35 个回答。邀请回答 h1654155957.9520 该类别下有 35 个回答。邀请回答 jenny042 该类别下有 34 个回答。邀请回答 dfzvzs 该类别下有 34 个回答。邀请回答维生素B2 该类别下有 34 个回答。邀请回答凤毛麟角该类别下有 34 个回答。邀请回答 hfgdzc 该类别下有 33 个回答。邀请回答 ggfvxv 该类别下有 33 个回答。邀请回答刘洋该类别下有 33 个回答。邀请回答 meihuacg 该类别下有 33 个回答。邀请回答尼克wo 该类别下有 32 个回答。邀请回答储蓄叛逆该类别下有 32 个回答。邀请回答举报北上北京相关推荐 • 一个按键检测电路，总是烧IO口，求帮忙分析电路 9250 • 矩阵按键的原理是什么？有哪几种扫描方式呢 1292 • 矩阵按键与按键输入有哪些不同点 1474 • STM32F407的IO脚损坏 3542 • 三io口对6按键的按键扫描电路分析，有接触过的，帮帮忙 3823 • N76E003三个脚做输入捕获，IO口用一段时间后损坏是什么原因？ 220 • 区别独立按键与矩阵按键 4190 • 44的矩阵按键测量结果不对 1530* • 矩阵按键扫描原理是什么？ 696 • MS51FC0AE单片机IO口损坏的原因？ 209 1个回答

答案对人有帮助，有参考价值 0 您的观点是正确的。在STM32矩阵按键设计中，确实存在由于行线配置不当导致的IO口损坏风险。以下是详细的解释： 1. 当行线配置为GPIO_Mode_Out_PP（推挽输出）时，每个行线都有一个固定的电平（高电平或低电平）。当两个按键同时按下时，它们的行线电平会相互冲突，可能导致短路，从而损坏IO口。 2. 为了避免这种情况，可以将行线配置为GPIO_Mode_Out_OD（开漏输出）。开漏输出允许行线在没有内部驱动时呈现高阻态，这样可以减少短路的风险。 3. 在列线上加上拉电阻是一个好主意。上拉电阻可以确保在没有按键按下时，列线保持高电平。当按下一个按键时，行线和列线之间的连接会导致列线电平降低，从而可以检测到按键的按下。 4. 使用开漏输出和上拉电阻的矩阵按键设计可以提高系统的稳定性和可靠性，降低IO口损坏的风险。 5. 另外，还可以考虑使用外部中断来检测按键按下事件，这样可以进一步提高系统的响应速度和准确性。总之，将行线配置为GPIO_Mode_Out_OD（开漏输出）并在列线上加上拉电阻是实现矩阵按键的一种更为合理的方法，可以有效降低IO口损坏的风险。

2024-5-17 17:58:10 评论举报郭大