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使用 STM32F407ZET6 tiME1 CHI、CH1N和TIME8 CH2 CH2N,产生四路驱动,提供给全桥逆变,PWM频率为85kHz,死区时间为300ns。
在应用中出现如下问题: 1)PWM频率存在周期性微小跳变,如正常PWM波形,周期为11.76us,高电平时间为5.88us,系统长期运行时,在某些时刻呈周期性或偶发性,高电平时间从5.88us增加约300sn,变成了6.2us,或减小为5.5us,从而诱发系统异常; 2)在特殊工况下,PWM存在漏波的情况,如高电平持续时间达到了19us。上述两种情况出现后,在几个周期内又恢复正常,正常工作一段时间后复发。 在反复测试中,可以明确以下几点: 1)该异常受AD采样口影响,当断开所有采样后,该异常不会出现; 2)在AD采样口增加使用隔离放大器或增加EMI滤波器时,情况有所改善,但不会根除;3)使用系统其它IO口固定频率如1kHz的波形,在出现漏波时,如高电平从5.88us持续到19us,该IO口高电平也会从500us持续到1500us左右,同步异常。 晶振从无源晶振改为有源晶振,无改善,晶振频率为25MHz。 该问题至今未彻底解决,大家看下可能的原因?或者是ARM系列在大功率电源上应用时,抗干扰能力不足,需要做特殊处理,提高抗干扰能力? (20230314 波形补充,如下:负压持续时间增大了约3倍,正压持续时间约2倍,几个周期后恢复正常。 ) |
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1个回答
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关闭AD采样是断开外部的输入还是关闭AD的中断。AD是DMA采集还是普通的中断采集?考虑一下AD中断后,是不是中断时间处理太长,导致PWM中断延时,可以考虑采用抢占式中断,把AD中断级别调到比PWM低一些试试。
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