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我们使用的是 TC332 微控制器,我们使用了 MBIST 测试和无损测试方法。
这些测试提供了在测试期间没有错误的肯定答案。 根据 fuSA 的指导方针,我们需要通过注入 ECC 错误来测试 RAM 错误和 Pflash 错误。 |
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1个回答
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要通过为TC332微控制器注入ECC错误来测试RAM错误,您可以按照以下步骤操作:
1. 首先,了解TC332微控制器的ECC(错误纠错码)功能以及如何配置和使用它。确保您已经正确地启用了ECC功能。 2. 使用MBIST(内置自检测试)测试方法对RAM进行测试,并确保在测试期间没有检测到错误。这将验证RAM的基本功能和可靠性。 3. 根据fuSA(功能安全架构)的指导方针,您需要注入ECC错误来测试RAM错误。具体来说,您需要在RAM写入操作期间注入ECC错误。 4. 编写一个测试程序,该程序在RAM写入操作期间注入ECC错误。通过在特定的写入操作中改变数据位或比特位置来实现注入ECC错误。 5. 运行测试程序,并使用错误检测机制(例如,ECC校验)来检测RAM中的错误。如果检测到错误,则说明ECC注入工作正常。确保您记录和分析检测到的错误。 6. 对Pflash(程序存储器闪存)执行类似的测试步骤,使用相应的错误注入方法和错误检测机制。 请注意,这些步骤基于TC332微控制器,您可能需要针对您使用的特定微控制器和相应的文档进行适当的调整。确保您仔细阅读和理解相关的技术文档和指南,并遵循厂商的建议和要求。 |
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