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在应用单片机进行ADC项目设计的时候,结合以前弄的数据采集卡,这里有几个关于ADC采样的几个参数的问题,ADC的采样率,采样数,单次采样,连续采样等,这里想请教高手给指点一下,理解的更加清楚。
采样率:即采样频率,采样周期的倒数,一秒钟时间的采样点数 采样数:采样点的总数Sample,还是一次传送到PC的点数?抑或是一次采样的点数?对于连续采样,采样点数还有意义么?一直不停地采。。。 采样的前提是至少要满足奈奎斯特采样定理,按照定理的理解,是不是对于正弦周期信号,一个周期内至少采样两个点才能还原其信号(仅对定理进行理解)?。。。 比如对压力信号进行采样,压力随时间变化,一次采样是指一次采样一个点,还是一次采样多个点?按照我的理解,采集压力信号,因为压力信号随时间变化,一次采样一个点数就可以得到对应的压力,可为啥还要采样多个点来求均值来表示该点的压力值?这些点是有时间间隔 的啊?时间间隔极限小? 而比如对压力信号进行单次采样,触发一次采样结束,这时按照采样的点数(采样点数)求平均得到压力值? 还希望前辈予以指点。。。 |
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1个回答
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任何ADC其实在一个采样周期中只能得出一个值(可能是周期中某点的A对应值,但不能确定,因为A本身就是波动的)
要满足采样量化,采样频率至少是信号最大频率的2倍这个理解基本上是对的,但这仅仅是对频率变化比较快信号的基本条件。对于不同的模拟信号,其实有不同的量化策略,比如压力信号,一般压力信号变化频率是比较慢的,所以如果仅仅2倍变化频率采样(甚至更高频率采样)都是某个点的数据,反而因为采样频率太快可能受到临时干扰误差大,所以对这类信号的策略是使用平移窗中的平均值作为结果更有代表性。 |
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