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你好。我用 i.MX8m plus 制作了一个定制板。
我通过 RPA v9 制作 .ds 文件,并在 NXP i.MX/Mscale DDR Tool V3.31 上进行压力测试。 ============ Step 3: DDR parameters processing... ============ [Result] Done Success: DDR Calibration completed!!! DDR Stress Test Iteration 1 -------------------------------- --Running DDR test on region 1-- -------------------------------- t0.1: data is addr test .... t0.2: row hop read test ... t1: memcpy SSN armv8_x32 test .Address of test1 failure: 0x00000000800022C8 Data was: 0xFF7FFFFF02000000 But pattern was: 0xFFFFFFFF02000000 我的硬件设计团队制作了与 NXP LPDDR4 EVK 相同的 LPDDR4 电路。这是它的一部分。 我还附上了 RPA xlsx。 无论如何,我继续制作 u-boot 源代码,并使用 memtester 在内核提示符下进行测试。 root@(none):~# ./memtester 100 1 memtester version 4.3.0 (32-bit) Copyright (C) 2001-2012 Charles Cazabon. Licensed under the GNU General Public License version 2 (only). pagesize is 4096 pagesizemask is 0xfffff000 want 100MB (104857600 bytes) got 100MB (104857600 bytes), trying mlock ...locked. Loop 1/1: Stuck Address : testing 15FAILURE: possible bad address line at offset 0x05985f88. Skipping to next test... Random Value : ok Compare XOR : ok Compare SUB : ok Compare MUL : ok Compare DIV : ok Compare OR : ok Compare AND : ok Sequential Increment: ok Solid Bits : testing 3FAILURE: 0xffffffff != 0xff7fffff at offset 0x000b9504. Block Sequential : ok Checkerboard : ok Bit Spread : ok Bit Flip : testing 90FAILURE: 0xff7ff7ff != 0xfffff7ff at offset 0x031e4b48. Walking Ones : ok Walking Zeroes : ok 8-bit Writes : ok 16-bit Writes : ok Done 结果与上面的压力测试类似。 你能告诉我一些解决方案或我应该检查哪一点吗? |
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