完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦, 立即完善>
电子发烧友论坛|
我正在测试 S32K324 芯片上的 ADC 自检功能。
为了测试ADC出错时能检测到ADC,在硬件电路上人为将ADC Reference high voltage设置为0来模拟ADC故障,但是ADC Self-Test算法仍然不报错(我用AUTOSAR 标准接口自测 API) 我确认我去掉了相应的电路,因为ADC校准没有通过,会进入死循环。 我想知道什么会导致自检功能失败以及如何测试它。 |
|
相关推荐
|
|
只有小组成员才能发言,加入小组>>
2135个成员聚集在这个小组
加入小组我的项目我做主,使用GN+Ninja来完成构建系统(VSCode开发RT106X)
37376 浏览 0 评论
NXP IMX8应用处理器快速入门必备:技巧、使用、设计指南
6775 浏览 1 评论
7793 浏览 1 评论
7642 浏览 0 评论
NXP i.MX6UL开发板(linux系统烧录+规格+硬件+模块移植)使用手册
5071 浏览 0 评论
1556浏览 2评论
关于NINA-W132 Wi-Fi模块SPI通信遇到的疑问求解
1208浏览 2评论
如何在MPC PowerPC MCU上首次刷写后禁用BDM?
749浏览 1评论
将HFREFR和LFREFR寄存器值设置为错误的值来将故障注入CMU,但CMU_ISR值始终为零,为什么?
735浏览 1评论
将SPSDK for FRDM-MCX-W71 SDK与VS一起安装时出现hidapi构建错误怎么解决?
678浏览 1评论
/9
小黑屋| 手机版| Archiver| 电子发烧友 ( 湘ICP备2023018690号 )
GMT+8, 2025-12-2 01:56 , Processed in 1.448788 second(s), Total 70, Slave 53 queries .
Powered by 电子发烧友网
© 2015 bbs.elecfans.com
关注我们的微信
下载发烧友APP
电子发烧友观察
版权所有 © 湖南华秋数字科技有限公司
电子发烧友 (电路图) 湘公网安备 43011202000918 号 电信与信息服务业务经营许可证:合字B2-20210191

淘帖
825