如何通过QSPI RT1051烧写调试？

我用 RT1051 微控制器设计了自己的电路板。我通过 Quad SPI 使用外部 XIP 存储器。
内存的部件号是 MX25L6433FMI-08G。

当我尝试通过 SWD 总线进行闪存和调试时（我使用的是通用多链路 PEMicro），出现了问题。
看起来它是被编程的，但是当我开始调试时，内存地址的内容与应该被编程的内容不匹配。您可以在下图中查看。


闪光之后，程序停止在主程序上。但是，当我单击开始按钮开始调试过程时，程序会在特定地址中断，如下图所示。


有关我正在使用的参数的重要信息：

引导模式 = 00
我的 eFuses 配置如下图所示（我没有通过引脚使用 BOOT CFG）：


内存区域是这样的：


最后，XIP 配置是下面的代码：
const flexspi_nor_config_t hyperflash_config = {
.memConfig =
{
.tag = FLEXSPI_CFG_BLK_TAG,
.version = FLEXSPI_CFG_BLK_VERSION,
.readSampleClkSrc = kFlexSPIReadSampleClk_LoopbackFromDqsPad,
.csHoldtime = 3u,
.csSetupTime = 3u,
//.columnAddressWidth = 3u,
// Enable DDR mode, Wordaddassable, Safe配置，差分时钟
// .controllerMiscOption =
// (1u << kFlexSpiMiscOffset_DdrModeEnable) | (1u << kFlexSpiMiscOffset_WordAddressableEnable) |
// (1u << kFlexSpiMiscOffset_SafeConfigFreqEnable) | (1u << kFlexSpiMiscOffset_DiffClkEnable),
.sflashPadType = kSerialFlash_4pads,
.serialClkFreq = kFlexSpiSerialClk_100MHz,
.sflashA1Size = 8u * 1024u * 1024u,
// .dataValidTime = {16u, 16u},
.lookupTable =
{
// Read LUTs
FLEXSPI_LUT_SEQ(CMD_SDR, FLEXSPI_1PAD, 0xEB, RADDR_DDR, FLEXSPI_4PAD, 0x18),
FLEXSPI_LUT_SEQ(DUMMY_SDR, FLEXSPI_4PAD, 0x06 , READ_SDR, FLEXSPI_4PAD, 0x04),
},
},
.pageSize = 256u,
.sectorSize = 4u * 1024u,
.blockSize = 256u * 1024u,
.isUniformBlockSize = false,
};
#endif /* XIP_BOOT_HEADER_ENABLE */

那么，伙计们，我会错过一些重要的步骤吗？

这是我第一个使用 MCUExpress 和带外部存储器的 RT1051 的项目，所以我有点迷茫。