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我一直在摆弄 LMT86温度传感器
该传感器被视为高输出阻抗,因为它驱动的记录负载为 50uA。 STM32 上的 ADC 噪声不是“新”的。只是我第一次近距离观察这种波动。问题是仅仅毫伏的差异意味着来自传感器的不同温度读数,因此传感器本身已经存在某种“放大”。 在讨论中,鉴于这是一个高阻抗源,需要一个运算放大器来缓冲 ADC 的输入。 所以接下来我将一个LMV358运算放大器连接起来作为缓冲器,下面是观察结果。这是运算放大器 下图常用参数:adc clock 84 mhz / 4 ~ 21 mhz, 84 clocks sample time 2000个样本,10个样本/秒,测量室温约30.5-31摄氏度 计数 2000.000000 平均 30.882000 标准 6.782125 分钟 -213.360000 中位数 30.960000 最大 57.800000 不,温度没有意外下降到接近绝对零。在测量过程中始终是室温,万用表没有改变一个毫伏,而变化由 ADC 记录。 接下来,我设置了一个过滤器,以从中位数中删除 +/- 2 摄氏度以外的所有值,并删除了 555 个离群值。 计数 1445.000000 平均 30.973156 标准 0.733296 最低 29.030000 中位数 30.890000 最大 32.950000 接下来移除运算放大器并将传感器 LMT86 直接连接到 ADC(在 stm32f401 上) 2000个样本,10个样本/秒,测量室温约30.5-31摄氏度 计数 2000.000000 平均 30.930100 标准 4.062343 最少 3.670000 中位数 30.810000 最大 59.260000 接下来,我设置了一个过滤器以从中值移除 +/- 2 摄氏度以外的所有值,移除 500 个离群值。 计数 1500.000000 均值 30.817787 标准 0.698166 最低 28.810000 中位数 30.810000 最大 32.800000 这是一种两难选择。运算放大器可能会降低阻抗(显着?),但误差/方差大致相同! 更令人担忧的是在未过滤的输入中观察到的大异常值。当 OpAmp 被放置为传感器与 stm32f401 之间的缓冲区时,这似乎并没有消失。 |
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1个回答
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这是一个更新,我直接在面包板上修补了LMT86 - 没有长电线/没有电线/没有运算放大器等。
2000 个样本,LMT86直接到 STM32F401 ADC PA0 LMT86 直接到 STM32F401 ADC PA0,丢弃了 122 个值超出中值 0.5 摄氏度范围的值,这仅占 2000 个样本的 5% 左右。 计数 1878.000000 平均 31.195000 标准 0.162021 最低 30.740000 25% 31.110000 中位数 31.180000 75% 31.330000 最大 31.620000 这个结果是惊人的,标准差是0.162摄氏度。95%置信区间是1.959 sigma ~ 0.31736。 现在,在 stm32f401 ADC pa0 上测得的 LMT86 在 95% 的置信区间内准确度为 +/- 0.31736 摄氏度。 然后取完整的 0.5 摄氏度区间,即 3.08 西格玛,即 > 99.8%(准确)置信区间 LMT86 是一种精确的设备,它符合 TI 发布的规范,可以在 stm32f401 ADC 上进行近乎无噪声的测量。 直方图显示的温度条在 0.1 摄氏度以内。我只使用 12 个箱子来存放 2000 个样本。 回到LMT86的规格,它是每摄氏度 -10.9 mV 平均增益。 这转化为在 STM32F401 ADC 上以 95% 的置信区间测得的 +/-3.46 mV 精度。 在 0.5 摄氏度、3.08 西格玛(> 99.8% 置信区间)时,它是 +/- 5.45 mV,在 stm32f401 ADC 上测量的几乎 > 99.8% 置信区间。 测量仍然是随机的,因为我可以观察到每个样本的不同数字。但样本和均值很好地符合钟形曲线(正态分布),在丢弃 *异常值* 之后。 仍然不能排除无线电干扰等作为可能导致变化,尤其是异常值的噪声源。 数据分析看起来是这样的 其中每一行都是 Anderson–Darling 统计数据 此分析是通过拒绝以 2 摄氏度开始的公差范围外的值并降低它来完成的。 Anderson–Darling 统计量减少到最小值,最后增加,表明随着公差变窄,拟合度较差。 现在最符合正态分布的是 0.5 摄氏度,置信区间为 99.8%
这也证实了“无线电波”干扰假设,即那些异常值和方差是由于无线电波的干扰。 但这需要另外一组“范围”图表来验证它。 |
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