如何用好芯片去测试其他的芯片呢

　　问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
　　输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i， j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
　　输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
　　样例输入
　　3
　　1 0 1
　　0 1 0
　　1 0 1
　　样例输出
　　1 3
　　#include 《stdio.h》
　　int n;
　　int a［20］［20］;
　　int num［20］={0};
　　int main （）
　　{
　　int i，j;
　　scanf（“%d”，&n）;
　　for（i=1;i《=n;i++）
　　for（j=1;j《=n;j++）
　　{
　　scanf（“%d”，&a［i］［j］）;
　　if（a［i］［j］==1）
　　{
　　num［j］++; //记录每一列的1 的个数 ，用于判断是否大于n/2
　　}
　　}
　　int flag=0;//设置输出格式
　　for（i=1;i《=n;i++）
　　{
　　if（num［i］》n/2）
　　{
　　if（flag==0）
　　{
　　printf（“%d”，i）;
　　flag=1;
　　}
　　else
　　printf（“ %d”，i）;
　　}
　　}
　　return 0;
　　}
　　算法思路：
　　已知好芯片个数大于坏芯片个数。
　　那么我是待测芯片，其他的芯片来检测我，得到检测值a［j］。
　　for （j = 0;
　　j 《 n;
　　j++）{ k = 0;
　　for （i = 0;
　　i 《 n;
　　i++）
　　{
　　。..
　　}
　　} 这也是为什么保持j不变，i变化。
　　如果我是好的芯片，那么不管坏芯片的干扰，好芯片的检测结果为1的个数绝对大于等于n/2了；
　　如果我是坏芯片，即使所有的坏芯片对我检测值都为1，由于坏芯片的个数小于n/2，所以总数也是小于n/2的。