DFT工程师经典教程书籍

2012-1-11 14:33:22 81343

DFT是什么？
DFT在芯片设计领域的含义，即可测性设计(Design for Test)，
可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，从而使芯片变得容易测试，大幅度节省芯片测试的成本。

DFT工程师经典教程书籍

游客
，如果您要查看本帖隐藏内容请回复

评分

参与人数 1	积分 +1	收起理由
275893651	+ 1	您的帖子很精彩,期待您分享的下一个帖子!

查看全部评分

2012-1-11 14:33:22　　 1 评论 淘帖0 举报

相关推荐

1 条评论

47silver
2021-11-4 16:34
学习学习

赞回复举报

416 个讨论

0 先下来看看

2012-1-18 14:04:49 评论举报 1^# 549295954

0 感兴趣

2012-1-27 23:03:40 评论举报 2^# chipcn

0

2012-1-31 22:17:03 评论举报 3^# 李可

0 正需要

2012-2-6 15:00:33 评论举报 4^# qqcaiyin

0 谢谢~~~~~~~~~~~~~~~~

2012-2-15 23:45:19 评论举报 5^# 冯华星

0 先看看

2012-2-26 16:39:55 评论举报 6^# lgp123131

0 不知道我能不能学的懂

2012-4-5 20:30:02 评论举报 7^# 袁博

0 感谢分享

2012-4-9 19:30:52 评论举报 8^# 刘贰

0 看看

2012-4-10 01:26:02 评论举报 9^# dustcool

0 是什么东西那？

2012-5-25 16:01:07 评论举报 10^# 29495223539655

0 正需要啊~~~谢谢~~~~~~~~~

2012-5-28 15:53:53 评论举报 11^# lsllishiliang

0 非常经典，多谢

2012-10-4 02:22:01 评论举报 12^# 陆洋

0 谢谢

2012-10-23 21:03:17 评论举报 13^# 这么近那么远

0 kankan

2012-11-6 20:30:45 评论举报 14^# renky813159

0

2012-12-1 23:57:39 评论举报 15^# 江华

0

2012-12-21 08:51:04 评论举报 16^# Мêゝ我在等一

0

2012-12-26 17:07:26 评论举报 17^# D_Jay

0

2012-12-26 17:08:55 评论举报 18^# D_Jay

0

2012-12-27 10:31:35 1 评论举报 19^# 好几个健康 1 条评论 47silver 2021-11-20 14:42 学习一下赞回复举报

只有小组成员才能发言，加入小组>>

12 3 4 5 6 7 8 9 10 ... 21 / 21 页下一页

芯片测试与失效分析

735个成员聚集在这个小组

加入小组

精选推荐

【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块（MSP430F122+MAX491）

2041 浏览 0 评论
典型射频芯片测试介绍与测量仪器的程控(GPIB)

2951 浏览 0 评论
集成电路的设计与分工

2851 浏览 0 评论
芯片检测存在问题

3234 浏览 0 评论
关于USB3.0芯片VL812的问题~~~

10415 浏览 5 评论

创建小组步骤

创建小组创建自己的地盘
个性设置精心打造小组空间
邀请好友邀请好友加入我的小组
小组升级小组积分升级赢得社区推荐

创建属于自己的小组

快速回复 返回顶部 返回列表

关注微信公众号

电子发烧友网

电子发烧友论坛

社区合作: 刘勇; 联系电话：15994832713; 邮箱地址：liuyong@huaqiu.com

社区管理: elecfans短短; 微信：elecfans_666; 邮箱：users@huaqiu.com

返回芯片测试与失效分析

12 3 4 5 6 7 8 9 10 ... 21 / 21 页下一页

搜索历史

DFT工程师经典教程书籍

评分

相关推荐

精选推荐

最新话题

热门话题

创建小组步骤

站长推荐 /7