DFT工程师经典教程书籍

2012-1-11 14:33:22 96434

DFT是什么？
DFT在芯片设计领域的含义，即可测性设计(Design for Test)，
可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，从而使芯片变得容易测试，大幅度节省芯片测试的成本。

DFT工程师经典教程书籍

游客
，如果您要查看本帖隐藏内容请回复

评分

参与人数 1	积分 +1	收起理由
275893651	+ 1	您的帖子很精彩,期待您分享的下一个帖子!

查看全部评分

2012-1-11 14:33:22　　 1 评论 淘帖0 举报

相关推荐

1 条评论

47silver
2021-11-4 16:34
学习学习

赞回复举报

419 个讨论

0 好书让我下载一个来看看

2017-3-22 15:22:03 评论举报 181^# 不再回头555

0

2017-3-24 14:47:16 评论举报 182^# 星雨星夜

0 不错非常感谢楼主的资料分享

2017-4-2 14:19:46 评论举报 183^# wanka007

0 先看看

2017-4-9 16:09:37 评论举报 184^# 雷轩轩

0 学习学习@

2017-4-26 00:43:54 评论举报 185^# 魏佳艺

0 谢谢

2017-4-28 17:54:20 评论举报 186^# 李卓

0 非得回复。。。。。。。。。

2017-5-3 21:39:54 评论举报 187^# Herman

0 想看看是什么资料

2017-5-5 00:21:09 评论举报 188^# 柳清超

0 kankan.

2017-5-9 08:54:17 评论举报 189^# frtt2014

0 看看

2017-5-15 16:20:02 评论举报 190^# yuanjingwei

0 谢谢楼主

2017-5-18 20:16:13 评论举报 191^# 杨咩咩222

0 急需资料，下来看看

2017-5-24 10:16:16 评论举报 192^# zbh5550

0 DFT工程师经典教程书籍 [修改]

2017-5-24 13:44:43 评论举报 193^# 李明

0 下载看看

2017-6-6 10:22:57 评论举报 194^# 徐浩

0 顶一个

2017-6-8 15:57:56 评论举报 195^# 王玮

0 厉害了

2017-6-9 12:09:45 评论举报 196^# 哈哈哈F

0 提示: 作者被禁止或删除内容自动屏蔽

2017-6-19 22:30:42 评论举报 197^# 头像被屏蔽

0

2017-6-19 22:45:14 评论举报 198^# 风中的榆荚

0 经典，拜读下经典，拜读下经典，拜读下经典，拜读下

2017-6-21 22:18:47 评论举报 199^# 张强

0 得先回复才能看

2017-6-28 14:22:46 评论举报 200^# 失意的学生

只有小组成员才能发言，加入小组>>

1 ...上一页 6 7 8 91011 12 13 14 ... 21 / 21 页下一页

芯片测试与失效分析

770个成员聚集在这个小组

加入小组

精选推荐

【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块（MSP430F122+MAX491）

2342 浏览 0 评论
典型射频芯片测试介绍与测量仪器的程控(GPIB)

3286 浏览 0 评论
集成电路的设计与分工

3188 浏览 0 评论
芯片检测存在问题

3663 浏览 0 评论
关于USB3.0芯片VL812的问题~~~

17689 浏览 5 评论

创建小组步骤

创建小组创建自己的地盘
个性设置精心打造小组空间
邀请好友邀请好友加入我的小组
小组升级小组积分升级赢得社区推荐

创建属于自己的小组

快速回复 返回顶部 返回列表

关注微信公众号

电子发烧友网

电子发烧友论坛

社区合作: 刘勇; 联系电话：15994832713; 邮箱地址：liuyong@huaqiu.com

社区管理: elecfans短短; 微信：elecfans_666; 邮箱：users@huaqiu.com

返回芯片测试与失效分析

1 ...上一页 6 7 8 91011 12 13 14 ... 21 / 21 页下一页

搜索历史

DFT工程师经典教程书籍

评分

相关推荐

精选推荐

最新话题

热门话题

创建小组步骤

站长推荐 /9