[问答]

如何分析wafer针测MAP失效点的分布规律

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问答对人有帮助，内容完整，我也想知道答案 0 各位大侠们，赶快显显你门的神威吧，兄弟我有一事不明，困扰多时，至今无人能解，然弟自知才疏学浅，纵不吃饭不睡觉，卧薪尝胆亦无济于事，故实为心中一大恨，不吐不快，废话少说，请看问题：大家都知道marginal failure（边缘失效）这个是FAB厂工艺和制程水平决定的,一般很难改变,但圆片中央附近的失效晶粒是完全有可能找到原因并不断改善的,而很多时候测试的datalog往往看不出什么异常，因为测试机各项测试参数均在正常范围内，可就是测试结果就是不正常，我总不能凭此就判断圆片本身质量不行吧？！所以我想请问各位高手在针测MAP图中心附近失效的点排布到底有什么规律,比如据我观察有很多圆片失效点呈离散型、聚集型、直线型、直角型分布等,这些大概能说明什么问题?不一定要非常准确，合适的建议也可以，但要具体，万分感谢！ 0
2011-12-15 14:27:40　　评论淘帖0 邀请回答您可以邀请以下用户，快速回答问题 × 14054 该类别下有 2 个回答。邀请回答小海_SZ 该类别下有 1 个回答。邀请回答 bo1989 该类别下有 1 个回答。邀请回答 csheli 该类别下有 1 个回答。邀请回答开票一该类别下有 1 个回答。邀请回答江湖之远该类别下有 1 个回答。邀请回答 leecon 该类别下有 1 个回答。邀请回答缺鱼的水该类别下有 1 个回答。邀请回答 jf_37592706 该类别下有 1 个回答。邀请回答 mxs1123 该类别下有 1 个回答。邀请回答 704296726 该类别下有 1 个回答。邀请回答 VDMOS 该类别下有 1 个回答。邀请回答 1落1寞1111 该类别下有 1 个回答。邀请回答 ~@坏坏乖乖@~ 该类别下有 1 个回答。邀请回答日耳曼战车该类别下有 1 个回答。邀请回答 007liuhong 该类别下有 1 个回答。邀请回答一刀先508 该类别下有 1 个回答。邀请回答新手上路10 该类别下有 1 个回答。邀请回答鹏程万里该类别下有 1 个回答。邀请回答 434224591 该类别下有 1 个回答。邀请回答举报 jf_1664521027.6602 相关推荐 • 失效分析常用的设备及功能 3914 • 有关元器件失效的分析 2182 • 静电损伤失效及如何分析 3220 • 周期不规律的波形，怎么分析脉冲持续时间呢？ 2966 • wafer表面被laser mark后，能通过电测吗？ 11530 • 请问PCA2129的wafer有多少nm？ 344 • MOS管热阻测试失效分析 5213 • 针对芯片失效模式，如何选择最正确的工具？ 3814 • 全球知名大型设计制造服务商急聘资深失效分析工程师 2806 • 失效分析主要步骤和内容？ 5483 1个回答