IC解密失败的原因

电路

可能，但好比比坐飞机也有出事故的可能一样。目前加密的最新技术不断出现、芯片烧断数据脚、解密开盖过程中存在的漏酸的可能以及电路修改过程中误操作等，这些都有可能造成解密的失败；另外目前单片机的程序存储是靠内部电子作为介质来存储的，当芯片使用周期比较长或受到外部强磁场等环境的影响，也会导致解密失败。如果采用纯软件的方式破解，和母片的编程软件和编程方式甚至编程语言等有很大关系，也存在失败的概率。但我们解密失败不收客户解密费用的。

单片机解密失败的原因：
1.DECAP存在失败的可能(这种占解密失败原因的绝大部分）：
A.过腐蚀，PAD腐蚀坏，外部不能读出程序
B.芯片流片工艺不好，DECAP的时候容易腐蚀PASSVAtiON表层(钝化层），使管芯实效，外部无法读出程序
C.开盖的时候把PIN脚氧化（酸弄到管脚上了）
D.无意中弄断AL线
E.单片机机使用特殊封装材料，无法和酸反应
F.管芯特殊封装，不在芯片正中位置，极容易开坏（下图是MCU由2个管芯组成，通常称为MCM）
E:芯片封装的时候有杂质，无法进行化学反应。

2.FIB存在失败的可能：
A:芯片流片工艺小，位子没有找正确
B:FIB连线过长，离子注入失效
C:离子注入强度没有控制好
D:FIB设备存在问题（目前上海FIB设备基本是***或美国淘汰的，设备存在问题的概率还经常出现，但知道有问题还好，怕就怕做的过程中突然出现问题，当然这个概率极其的低）
E:某些芯片破解，需要在同一小区域做多项FIB，或者在同一时间内，做多项FIB，那么就容易FIB出现问题。