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电路上的开关检测电路，外部DI1开路的时候，光耦不发光，DIB1输入mcu高电平；外部DI1合闸接地GND-E的时候，光耦发光，DIB1低电平。在平常应用没问题，但是做抗扰度试验就不行了，DI1和GND-E加差模2.5kV，100KHz的阻尼振荡干扰信号，整个设备就死机了，请问哪里改进，增加抗扰度。 
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1 条评论
11个回答
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输入加ESD管子
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首先需要定位干扰源在哪里
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ESD管加在什么地方呢
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好的，加TVS试试。光耦电流小也会有影响吗？
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加入压敏电阻试试看
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可以在这个硬件部位做一个盒子，设备全部安装在盒子里面，严格接地保护试试看效果怎么样。
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弱信号控制电路外加差模2.5kV，100KHz的阻尼振荡干扰信号的时候，很容易被外电压干扰的。
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我是来学习的。
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来学习，顺便嫖些积分。
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2020-11-19 17:29:58
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196 浏览 0 评论
573 浏览 1 评论
544 浏览 0 评论
如图，这个电路给超级电容充电，该怎么理解呢？为啥要用两个负载开关？第二个是啥作用？还有旁边的电阻？
788 浏览 2 评论
请问这个电路图是有错误么，这是一个鉴幅器但是输出的波形不对，有偿解决
789 浏览 0 评论
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