紧凑型精密6自由度惯性传感器

1291 传感器

问答对人有帮助，内容完整，我也想知道答案 0 突发读取功能突发读取功能提供在一个连续位流中读取所有数据的方法，各16位段之间无停转时间。如图21所示，设置DIN = 0x3E00可开启该模式，同时保持eq sup4(f(,CS))低电平持续8个额外16位读取周期。这10个周期在DOUT线上产生下列输出寄存器序列： DIAG_STAT、X_GYRO_OUT、Y_GYRO_OUT、Z_GYRO_OUT、X_ACCL_OUT、Y_ACCL_OUT、Z_ACCL_OUT、TEMP_OUT、SMPL_CNTR和校验和。校验和值用于确认数据完整性，因为它是从以下公式得出（该过程中各字节都无符号）。图21. 突发读取序列 0
2020-5-13 06:02:17　　评论淘帖0 邀请回答您可以邀请以下用户，快速回答问题 × hwp0415229 该类别下有 6 个回答。邀请回答梦中的花不凋零该类别下有 5 个回答。邀请回答 Greatwayer 该类别下有 5 个回答。邀请回答 h1654155957.9866 该类别下有 5 个回答。邀请回答嘻嘻爱哈哈该类别下有 5 个回答。邀请回答新晴细履平沙该类别下有 5 个回答。邀请回答 AMp88 该类别下有 4 个回答。邀请回答乔伊斯e 该类别下有 4 个回答。邀请回答 xiezhe272 该类别下有 4 个回答。邀请回答 hzp_bbs 该类别下有 4 个回答。邀请回答 vynywrwr 该类别下有 4 个回答。邀请回答 Cdxxgcdx 该类别下有 4 个回答。邀请回答 fgfFsG 该类别下有 4 个回答。邀请回答听你喜欢的歌该类别下有 4 个回答。邀请回答 cfdwerwer 该类别下有 4 个回答。邀请回答 jfdgs 该类别下有 4 个回答。邀请回答 60user69 该类别下有 4 个回答。邀请回答 gan5482 该类别下有 4 个回答。邀请回答 vywyefswer 该类别下有 4 个回答。邀请回答 77uwfsdf 该类别下有 4 个回答。邀请回答举报黄登高相关推荐 • 紧凑型精密6自由度的惯性传感器 1260 • 51/stm32单片机控制6自由度机械臂（带云台）二次开发是用什么传感器定位比较好? 5869 • 紧凑型精密6自由度惯性传感器 3068 • 精密MEMS传感器实现导航应用 1646 • 如何从紧凑型闪光灯中选择图像？ 1766 • 10自由度MEMS惯性传感器ADIS16480 2003 • 如何实现功率密度非常高的紧凑型电源设计？ 982 • MEMS惯性传感器的测试及应用领域 5588 • 惯性传感器在运动物联网中有什么作用 1879 • 一种紧凑型表贴波导滤波器及其测试结果介绍 1803 1个回答

答案对人有帮助，有参考价值 0 SPI读取测试序列图22提供了一个用于SPI通信测试的测试模式。在该模式中，0x5600被重复写入DIN线，片选信号在各16位序列之间保持高电平的时间应满足停转时间要求（参见表2）。从第二个16位序列开始，DOUT产生PROD_ID寄存器的内容0x404C（见表41）。图22. SPI测试读取模式（DIN = 0x5600，DOUT = 0x404C）器件配置表8中的控制寄存器为用户提供了多种配置选项。SPI端口使用图20所示的位分配功能来访问这些寄存器，一次一个字节。每个寄存器都有16位，其中位[7:0]代表低位地址，位[15:8]代表高位地址。图23提供了一个将0x01写入地址0x3E的示例（GLOB_CMD[1]，使用DIN = 0xBE01）。图23. SPI写序列示例双存储器结构将配置数据写入控制寄存器会更新其SRAM内容，SRAM是易失性存储器。优化系统中的各相关控制寄存器设置之后，设置GLOB_CMD[3] = 1 (DIN = 0xBE08)可将这些设置复制到非易失性闪存。闪存更新过程全程要求有效的电源电平（见表44）。表8列出了用户寄存器的存储器映射，其中包括一个闪存备份栏。此栏中的“是”表示相应的寄存器在闪存中有一个镜像位置，正确备份后，寄存器在启动期间或复位之后可以自动恢复其内容。图24是用于管理操作和存储关键用户设置的双存储器结构示意图。图24. SRAM和闪存图用户寄存器表8. 用户寄存器存储器映射1 名称 R/W 闪存备份地址2 默认值功能位分配 FLASH_CNT R 是 0x00 无闪存写操作计数见表49 DIAG_STAT R 否 0x02 0x0000 诊断和工作状态见表43 X_GYRO_LOW R 否 0x04 无 X轴陀螺仪输出，低位字见表10 X_GYRO_OUT R 否 0x06 无 X轴陀螺仪输出，高位字见表11 Y_GYRO_LOW R 否 0x08 无 Y轴陀螺仪输出，低位字见表12 Y_GYRO_OUT R 否 0x0A 无 Y轴陀螺仪输出，高位字见表13 Z_GYRO_LOW R 否 0x0C 无 Z轴陀螺仪输出，低位字见表14 Z_GYRO_OUT R 否 0x0E 无 Z轴陀螺仪输出，高位字见表15 X_ACCL_LOW R 否 0x10 无 X轴加速度计输出，低位字见表24 X_ACCL_OUT R 否 0x12 无 X轴加速度计输出，高位字见表25 Y_ACCL_LOW R 否 0x14 无 Y轴加速度计输出，低位字见表26 Y_ACCL_OUT R 否 0x16 无 Y轴加速度计输出，高位字见表27 Z_ACCL_LOW R 否 0x18 无 Z轴加速度计输出，低位字见表28 Z_ACCL_OUT R 否 0x1A 无 Z轴加速度计输出，高位字见表29 SMPL_CNTR R 否 0x1C 无采样计数器，MSC_CTRL[3:2] = 11 见表52 TEMP_OUT R 否 0x1E 无温度（内部，未校准）见表37 保留无无 0x20、0x22 无保留，请勿使用无 X_DELT_ANG R 否 0x24 无 X轴角度变化输出见表18 Y_DELT_ANG R 否 0x26 无 Y轴角度变化输出见表19 Z_DELT_ANG R 否 0x28 无 Z轴角度变化输出见表20 X_DELT_VEL R 否 0x2A 无 X轴速度变化见表32 Y_DELT_VEL R 否 0x2C 无 Y轴速度变化见表33 Z_DELT_VEL R 否 0x2E 无 Z轴速度变化见表34 保留无无 0x30 无保留，请勿使用无 MSC_CTRL R/W 是 0x32 0x00C1 其它控制见表50 SYNC_SCAL R/W 是 0x34 0x7FFF 同步输入量程控制见表51 DEC_RATE R/W 是 0x36 0x0000 抽取率控制见表53 FLTR_CTRL R/W 是 0x38 0x0500 滤波器控制，自动调零记录时间见表54 保留无无 0x3A、0x3C 无保留，请勿使用无 GLOB_CMD W 否 0x3E 无全局命令见表44 X_GYRO_OFF R/W 是 0x40 0x0000 X轴陀螺仪偏置失调系数见表55 Y_GYRO_OFF R/W 是 0x42 0x0000 Y轴陀螺仪偏置失调系数见表56 Z_GYRO_OFF R/W 是 0x44 0x0000 Z轴陀螺仪偏置失调系数见表57 X_ACCL_OFF R/W 是 0x46 0x0000 X轴加速度计偏置失调系数见表58 Y_ACCL_OFF R/W 是 0x48 0x0000 Y轴加速度计偏置失调系数见表59 Z_ACCL_OFF R/W 是 0x4A 0x0000 Z轴加速度计偏置失调系数见表60 保留无无 0x4C、0x4E、0x50 无保留，请勿使用无 LOT_ID1 R 是 0x52 无批次标识号1 见表39 LOT_ID2 R 是 0x54 无批次标识号2 见表40 PROD_ID R 是 0x56 0x404C 产品标识见表41 SERIAL_NUM R 是 0x58 无批次序列号见表42 CAL_SGNTR R 无 0x60 无校准存储器签名值见表46 CAL_CRC R 无 0x62 无校准存储器CRC值见表48 CODE_SGNTR R 无 0x64 无代码存储器签名值见表45 CODE_CRC R 无 0x66 无代码存储器CRC值见表47 1 N/A表示不适用。 2 每个寄存器均包含两个字节。显示的地址是低位字节地址。高位字节的地址等于低位字节的地址加上1。输出数据寄存器输出数据寄存器包含惯性传感器（陀螺仪、加速度计）测量、角度变化计算、速度变化计算和相对温度监测。旋转 ADIS16460利用iMEMS陀螺仪提供围绕三个正交轴的惯性旋转测量结果，它有两种不同格式：角速率和角位移（角度变化）。图26显示了各轴的分配以及相应输出寄存器（参见表9）中的正响应所对应的旋转方向。角速率数据旋转角速率数据代表三轴MEMS陀螺仪的校准响应。 6个寄存器提供这些测量的实时结果。每个轴有两个专用寄存器：一个主要寄存器和一个辅助寄存器。表9列出了图26中各轴（ωX、ωY、ωZ）的寄存器分配。表9. 旋转角速率数据寄存器轴主要寄存器次要寄存器 ωX X_GYRO_OUT（参见表11） X_GYRO_LOW（参见表10） ωY Y_GYRO_OUT（参见表13） Y_GYRO_LOW（参见表12） ωZ Z_GYRO_OUT（参见表15） Z_GYRO_LOW（参见表14）主要寄存器提供一个16位二进制补码数，比例因子(KG)等于0.005°／s/LSB。辅助寄存器让用户能够捕捉与用户可配置数字滤波器（参见表53和表54）中的求和函数相关的位增长。图25显示了围绕X轴旋转的角速率的主要寄存器(X_GYRO_OUT)和辅助寄存器(X_GYRO_LOW)如何合并以提供一个最多支持32位数字分辨率的数字结果。图25. 32位陀螺仪数据格式表10. X_GYRO_LOW（基地址 = 0x04），只读位描述 [15:0] X轴，陀螺仪，输出数据来自X_GYRO_OUT数据路径的位增长表11. X_GYRO_OUT（基地址 = 0x06），只读位描述 [15:0] X轴，陀螺仪输出数据，0.005°／s/LSB (KG) 0°／s = 0x0000，二进制补码格式表12. Y_GYRO_LOW（基地址 = 0x08），只读位描述 [15:0] Y轴，陀螺仪，输出数据来自Y_GYRO_OUT数据路径的位增长表13. Y_GYRO_OUT（基地址 = 0x0A），只读位描述 [15:0] Y轴，陀螺仪输出数据，0.005°／s/LSB (KG) 0°／s = 0x0000，二进制补码格式表14. Z_GYRO_LOW（基地址 = 0x0C），只读位描述 [15:0] Z轴，陀螺仪，输出数据来自Z_GYRO_OUT数据路径的位增长表15. Z_GYRO_OUT（基地址 = 0x0E），只读位描述 [15:0] Z轴，陀螺仪输出数据，0.005°／s/LSB (KG) 0°／s = 0x0000，二进制补码格式图26. 惯性传感器定义表16提供了仅使用主要寄存器时16位测量结果的数字数据格式的7个例子。表16. 旋转速率，16位示例旋转速率(°／s) 十进制十六进制二进制 +100 20,000 0x4E20 0100 1110 0010 0000 +0.01 +2 0x0002 0000 0000 0000 0010 +0.005 +1 0x0001 0000 0000 0000 0001 0 0 0x0000 0000 0000 0000 0000 −0.005 −1 0xFFFF 1111 1111 1111 1111 −0.01 −2 0xFFFE 1111 1111 1111 1110 −100 −20,000 0xB1E0 1011 0001 1110 0000 虽然不是全部，但很多应用不需要32位数字分辨率来保证传感器的关键性能标准。当截断数据以获得较少位数时，请使用以下公式计算最低有效位的比例因子：其中，N为总位数。例如，若系统使用x_GYRO_LOW寄存器中的4位，则数据宽度为20位，LSB权重等于0.0003215°／s。表17提供了使用主要寄存器和辅助寄存器以产生20位旋转角速率测量结果的数字数据格式的7个例子。表17. 旋转速率，20位示例旋转速率(°／s) 十进制十六进制二进制 +100 +320,000 0x4E200 0100 1110 0010 0000 0000 +0.000625 +2 0x00002 0000 0000 0000 0000 0010 +0.0003125 +1 0x00001 0000 0000 0000 0000 0001 0 0 0x00000 0000 0000 0000 0000 0000 −0.0003125 −1 0xFFFFF 1111 1111 1111 1111 1111 −0.000625 −2 0xFFFFE 1111 1111 1111 1111 1110 −100 −320,000 0xB1E00 1011 0001 1110 0000 0000 角度变化数据角度变化测量（图26中的ΔθX、ΔθY、ΔθZ）代表各数据处理周期中围绕各轴的角位移。三个寄存器提供这些测量的实时结果，各轴（X、Y、Z）都有自己的专用寄存器。 X_DELT_ANG（参见表18）是X轴的输出数据寄存器（图26中的ΔθX），Y_DELT_ANG（参见表19）是Y轴的输出数据寄存器（图26中的ΔθY），Z_DELT_ANG（参见表20）是Z轴的输出数据寄存器（图26中的ΔθZ）。这些寄存器的比例因子取决于陀螺仪的比例因子（参见表11，KG = 0.005°／s/LSB）、与MSC_CTRL[3:2]（参见表50）相关的采样时钟(fSAMPLE)以及抽取率设置（DEC_RATE，参见表53）。表18. X_DELT_ANG（基地址 = 0x24），只读位描述 [15:0] X轴，角度变化输出数据 0° = 0x0000，二进制补码格式 1 LSB = KG × (DEC_RATE + 1)/fSAMPLE（度） MSC_CTRL[3:2] = 00时，fSAMPLE = 2048 Hz MSC_CTRL[3:2] ≠ 00时，fSAMPLE为外部时钟速率表19. Y_DELT_ANG（基地址 = 0x26），只读位描述 [15:0] Y轴，角度变化输出数据 0° = 0x0000，二进制补码格式 1 LSB = KG × (DEC_RATE + 1)/fSAMPLE（度） MSC_CTRL[3:2] = 00时，fSAMPLE = 2048 Hz MSC_CTRL[3:2] ≠ 00时，fSAMPLE为外部时钟速率表20. Z_DELT_ANG（基地址 = 0x28），只读位描述 [15:0] Z轴，角度变化输出数据 0° = 0x0000，二进制补码格式 1 LSB = KG × (DEC_RATE + 1)/fSAMPLE（度） MSC_CTRL[3:2] = 00时，fSAMPLE = 2048 Hz MSC_CTRL[3:2] ≠ 00时，fSAMPLE为外部时钟速率表21显示了MSC_CTRL[3:2] = 00 (fSAMPLE = 2048 Hz)且DEC_RATE = 0x0000时角度变化数据格式的数值示例。表21. x_DELT_ANG数据格式，示例1 角度(°)1 十进制十六进制二进制 +0.079998 +32,767 0x7FFF 0111 1111 1111 1111 +0.0000048828 +2 0x0002 0000 0000 0000 0010 +0.0000024414 +1 0x0001 0000 0000 0000 0001 0 0 0x0000 0000 0000 0000 0000 −0.0000024414 −1 0xFFFF 1111 1111 1111 1111 −0.0000048828 −2 0xFFFE 1111 1111 1111 1110 −0.080000 −32,768 0x8000 1000 0000 0000 0000 1 MSC_CTRL[3:2] = 00，DEC_RATE = 0x0000。表22显示了MSC_CTRL[3:2] = 01、外部时钟(fSAMPLE)为2000 Hz且DEC_RATE = 0x0009时角度变化数据格式的数值示例。表22. x_DELT_ANG数据格式，示例2 角度(°)1 十进制十六进制二进制 +0.81918 +32,767 0x7FFF 0111 1111 1111 1111 +0.000050 +2 0x0002 0000 0000 0000 0010 +0.000025 +1 0x0001 0000 0000 0000 0001 0 0 0x0000 0000 0000 0000 0000 −0.000025 −1 0xFFFF 1111 1111 1111 1111 −0.000050 −2 0xFFFE 1111 1111 1111 1110 −0.81920 −32,768 0x8000 1000 0000 0000 0000 1 MSC_CTRL[3:2] = 01，DEC_RATE = 0x0009，fSAMPLE = 2000 Hz。加速度计 ADIS16460利用iMEMS加速度计提供沿三个正交轴的线性惯性测量结果，它有两种不同格式：线性加速度和速度变化。图28显示了各轴的分配以及相应输出寄存器（参见表9）中的正响应所对应的线性加速度方向。线性加速度线性加速度测量结果代表三轴MEMS加速度计的校准响应。 6个寄存器提供这些测量的实时结果。每个轴有两个专用寄存器：一个主要寄存器和一个辅助寄存器。表23列出了图28中各轴（aX、aY、aZ）的寄存器分配。表23. 线性加速度数据寄存器轴主要寄存器次要寄存器 aX X_ACCL_OUT（参见表25） X_ACCL_LOW（参见表24） aY Y_ACCL_OUT（参见表27） Y_ACCL_LOW（参见表26） aZ Z_ACCL_OUT（参见表29） Z_ACCL_LOW（参见表28）主要寄存器提供一个16位二进制补码数，比例因子(KA)等于0.25 mg/LSB。辅助寄存器让用户能够捕捉与用户可配置数字滤波器（参见表53和表54）中的求和函数相关的位增长。图27显示了沿X轴的线性加速度的主要寄存器(X_ACCL_OUT)和辅助寄存器(X_ACCL_LOW)如何合并以提供一个最多支持32位数字分辨率的数字结果。图27. 32位加速度计数据格式表24. X_ACCL_LOW（基地址 = 0x10），只读位描述 [15:0] X轴，加速度计，输出数据来自X_ACCL_OUT数据路径的位增长表25. X_ACCL_OUT（基地址 = 0x12），只读位描述 [15:0] X轴，加速度计输出数据，0.25 mg/LSB (KA) 0 mg = 0x0000，二进制补码格式表26. Y_ACCL_LOW（基地址 = 0x14），只读位描述 [15:0] Y轴，加速度计，输出数据来自Y_ACCL_OUT数据路径的位增长表27. Y_ACCL_OUT（基地址 = 0x16），只读位描述 [15:0] Y轴，加速度计输出数据，0.25 mg/LSB (KA) 0 mg = 0x0000，二进制补码格式表28. Z_ACCL_LOW（基地址 = 0x18），只读位描述 [15:0] Z轴，加速度计，输出数据来自Z_ACCL_OUT数据路径的位增长表29. Z_ACCL_OUT（基地址 = 0x1A），只读位描述 [15:0] Z轴，加速度计输出数据，0.25 mg/LSB (KA) 0 mg = 0x0000，二进制补码格式图28. 惯性传感器定义表30提供了仅使用主要寄存器时16位测量结果的数字数据格式的7个例子。表30. 加速度（二进制补码格式）加速度(mg) 十进制十六进制二进制 +5000 20,000 0x4E20 0100 1110 0010 0000 +0.5 +2 0x0002 0000 0000 0000 0010 +0.25 +1 0x0001 0000 0000 0000 0001 0 0 0x0000 0000 0000 0000 0000 −0.25 −1 0xFFFF 1111 1111 1111 1111 −0.5 −2 0xFFFE 1111 1111 1111 1110 −5000 −20,000 0xB1E0 1011 0001 1110 0000 虽然不是全部，但很多应用不需要32位数字分辨率来保证传感器的关键性能标准。当截断数据以获得较少位数时，请使用以下公式计算最低有效位的比例因子：其中，N为总位数。例如，若系统使用x_ACCL_LOW寄存器中的2位，则数据宽度为18位，LSB权重等于0.0625 mg。表31提供了使用主要寄存器和辅助寄存器以产生18位旋转角速率测量结果的数字数据格式的7个例子。表31. 加速度，18位示例加速度(mg) 十进制十六进制二进制 +5000 80,000 0x13880 01 0011 1000 1000 0000 +0.125 +2 0x00002 00 0000 0000 0000 0010 +0.0625 +1 0x00001 00 0000 0000 0000 0001 0 0 0x00000 00 0000 0000 0000 0000 −0.0625 −1 0x3FFFF 11 1111 1111 1111 1111 −0.125 −2 0x3FFFE 11 1111 1111 1111 1110 −5000 −80,000 0x2C780 10 1100 0111 1000 0000 速度变化数据速度变化测量（图28中的ΔVX、ΔVY、ΔVZ）代表各数据处理周期中沿各轴的速度变化。三个寄存器提供这些测量的实时结果，各轴（X、Y、Z）都有自己的专用寄存器。 X_DELT_VEL（参见表32）是X轴的输出数据寄存器（图28中的ΔVX），Y_DELT_VEL（参见表33）是Y轴的输出数据寄存器（图28中的ΔVY），Z_DELT_VEL（参见表34）是Z轴的输出数据寄存器（图28中的ΔVZ）。这些寄存器的比例因子取决于加速度计的比例因子（参见表25，KA = 0.25 mg/s/LSB）、与MSC_CTRL[3:2]（参见表50）相关的采样时钟(fSAMPLE)以及抽取率设置（DEC_RATE，参见表53）。表32. X_DELT_VEL（基地址 = 0x2A），只读位描述 [15:0] X轴，速度变化输出数据 0° = 0x0000，二进制补码格式 1 LSB = KA × 10 × (DEC_RATE + 1)/fSAMPLE (mm/s) MSC_CTRL[3:2] = 00时，fSAMPLE = 2048 Hz MSC_CTRL[3:2] ≠ 00时，fSAMPLE为外部时钟速率表33. Y_DELT_VEL（基地址 = 0x2C），只读位描述 [15:0] Y轴，速度变化输出数据 0° = 0x0000，二进制补码格式 1 LSB = KA × 10 × (DEC_RATE + 1)/fSAMPLE (mm/s) MSC_CTRL[3:2] = 00时，fSAMPLE = 2048 Hz MSC_CTRL[3:2] ≠ 00时，fSAMPLE为外部时钟速率表34. Z_DELT_VEL（基地址 = 0x2E），只读位描述 [15:0] Z轴，速度变化输出数据 0° = 0x0000，二进制补码格式 1 LSB = KA × 10 × (DEC_RATE + 1)/fSAMPLE (mm/s) MSC_CTRL[3:2] = 00时，fSAMPLE = 2048 Hz MSC_CTRL[3:2] ≠ 00时，fSAMPLE为外部时钟速率表35显示了MSC_CTRL[3:2] = 00 (fSAMPLE = 2048 Hz)且DEC_RATE = 0x0000时速度变化数据格式的数值示例。表35. x_DELT_VEL数据格式，示例1 速度(mm/s) 十进制十六进制二进制 +39.999 +32,767 0x7FFF 0111 1111 1111 1111 +0.0024414 +2 0x0002 0000 0000 0000 0010 +0.0012207 +1 0x0001 0000 0000 0000 0001 0 0 0x0000 0000 0000 0000 0000 −0.0012207 −1 0xFFFF 1111 1111 1111 1111 −0.0024414 −2 0xFFFE 1111 1111 1111 1110 −40 −32,768 0x8000 1000 0000 0000 0000 1 MSC_CTRL[3:2] = 00，DEC_RATE = 0x0000。表36显示了MSC_CTRL[3:2] = 01、外部时钟(fSAMPLE)为2000 Hz且DEC_RATE = 0x0009时速度变化数据格式的数值示例。表36. x_DELT_VEL数据格式，示例2 速度(mm/s) 十进制十六进制二进制 +409.59 +32,767 0x7FFF 0111 1111 1111 1111 +0.0250 +2 0x0002 0000 0000 0000 0010 +0.0125 +1 0x0001 0000 0000 0000 0001 0 0 0x0000 0000 0000 0000 0000 −0.0125 −1 0xFFFF 1111 1111 1111 1111 −0.0250 −2 0xFFFE 1111 1111 1111 1110 −409.6 −32,768 0x8000 1000 0000 0000 0000 1 MSC_CTRL[3:2] = 01，DEC_RATE = 0x0009，fSAMPLE = 2000 Hz。内部温度内部温度测量数据加载到TEMP_OUT寄存器（参见表37）。表38显示了温度数据格式。注意，此温度代表内部温度读数，并不能精确反映外部条件。TEMP_OUT主要用于监控温度的相对变化。表37. TEMP_OUT（基地址 = 0x1E），只读位描述 [15:0] 二进制补码，0.05℃/LSB，25℃ = 0x0000 表38. 温度（二进制补码格式）温度(℃) 十进制十六进制二进制 +105 +1600 0x0640 0000 0110 0100 0000 +85 +1200 0x04B0 0000 0100 1011 0000 +25.1 +2 0x0002 0000 0000 0000 0010 +25.05 +1 0x0001 0000 0000 0000 0001 +25 0 0x0000 0000 0000 0000 0000 +24.95 −1 0xFFFF 1111 1111 1111 1111 +24.90 −2 0xFFFE 1111 1111 1111 1110 −40 −1300 0xFAEC 1111 1010 1110 1100 产品标识 PROD_ID寄存器包含16,460的二进制等效值（参见表41），它为需要在系统软件中跟踪此产品的系统提供一个特定变量。 LOT_ID1和LOT_ID2寄存器共同提供一个唯一的32位批次标识码（参见表39和表40）。 SERIAL_NUM寄存器包含一个二进制数，它代表器件标签上的序列号（参见表42）。SERIAL_NUM中指定的序列号是批次特定的。表39. LOT_ID1（基地址 = 0x52），只读位描述 [15:0] 批次标识，二进制码表40. LOT_ID2（基地址 = 0x54），只读位描述 [15:0] 批次标识，二进制码表41. PROD_ID（基地址 = 0x56），只读位描述（默认值 = 0x404C） [15:0] 产品标识 = 0x404C (16,460) 表42. SERIAL_NUM（基地址 = 0x58），只读位描述 [15:12] 保留，值不定 [11:0] 序列号，1至4094 (0xFFE) 状态/错误标志表43中的DIAG_STAT寄存器包含多个位，用作闪存更新、通信、超范围、自测和存储器完整性的错误标志。读取此寄存器即可了解各标志的状态，并将所有位复位为0以监控未来的操作。如果错误条件仍然存在，错误标志位将在下一个采样周期结束时恢复为1。表43. DIAG_STAT（基地址 = 0x02），只读位描述（默认值 = 0x0000） [15:8] 未使用，始终为0 [9:8] 保留，值不定（并非始终为0） 7 输入时钟不同步 1 = 失败，0 = 通过 6 闪存测试 1 = 失败，0 = 通过 5 自测诊断错误标志 1 = 失败，0 = 通过 4 传感器超范围 1 = 超范围，0 = 正常 3 SPI通信故障 1 = 失败，0 = 通过 2 闪存更新失败 1 = 失败，0 = 通过 [1:0] 未使用，始终为0 手动闪存更新设置GLOB_CMD[3] = 1（DIN = 0xBE08，参见表44）会触发手动闪存更新(MFU)例程，用户寄存器设置被复制到手动闪存以提供非易失性备份，在复位或上电过程中将其载入寄存器。此例程完成后，DIAG_STAT[2]包含通过/失败结果。当此位处于错误状态（等于1）时，会再次触发MFU，完成MFU后重新检查DIAG_STAT[2]。如果此标志为0，则表明最近的一次尝试已完成，无需其他操作。此错误标志持续存在可能意味着闪存故障。

2020-5-13 15:39:14 评论举报阮薇