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判断返回值，失败了再读一次
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多次读，并且加校验肯定是更好的。但我想知道，哪些因素会影响到读取失败。或者读取了错误值。其实失败了没关系，就怕读错了
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读取的是单片机芯片内置EEPROM，不是外置的
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内置的应该更没有问题，内部就是内存而已，一般直接读都可以的
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正常情况应该是1次错误都没有。除非环境或者程序有问题。
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无论是MCU内带的EEPROM还是外挂的EEPROM或FLASH，我都用CRC16校验，出错时最多读3次。
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这种校验方式非常安全的，防止读取的数据有误，不能出现错误的
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习惯性加校验 尽量追求万无一失
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内部的感觉就不应该有错
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这个跟单片机的可靠性有关系，建议采用校验和或者标志去判断数据读取是否正确
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