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1、请问为什么同一个信号输进去ADE7753的 V1N、V1P 和V2N、V2P。MODE = 0x4088,VRMS寄存器的数据会有2%的跳动,而IRMS寄存器里面的跳动只有0.5% 以下的跳动。而把VRMS寄存器里面的数据取多次数据再求平均值却可以达到0.5%以下的跳动,这是这个芯片的正常现象吗?
2、请问能够详细地说以一下,电压通道过零点读取数据,这种方法是怎么读取的吗?(读状态寄存器0X0A 当ZX位为0的时候读取读取VRMS和IRMS?) |
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5个回答
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您好,
1、请问您所说的跳动的值都是在过零点检测的值么?请问您输入信号的范围是什么样的,经过衰减网络后进入ADC之前的值是什么样的?我们想确定您的输入是否已经超过了特定错误百分比的动态范围。 2、读取状态寄存器0x0B的ZX位,当ZX位置零的时候表明信号产生了过零中断,这个时候读取一次RMS值。 谢谢 |
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您好!
1、我测得不是过零值,我用万用表测到进入ADC之前的电压是0.226V,通过SPI读取ADE7753芯片的数据再进行换算出来时,通道1大概的跳动范围是:0.318713158 - 0.318407029,通道2的大概跳动范围是:0.3230699 - 0.313719749(感觉通道2的电压有点像正弦波从高降到低再从低降升到高)。我换算的公式是:通道1电压 = IRMS寄存器值 * 0.5 /1868467 通道2的电压 = VRMS寄存器的值 * 0.5 / 1561400 2、读取状态寄存器0x0B的ZX位的状态一直为1从来没读到过0(0X0C也一样),整个程序我只设置的模式寄存器,IRMS和VRMS是直接读取的,如果要电压通道过零点读取数据,是不是IRQEN(0x0A)要设置点什么的? 3、你有ADE7753的例程吗?能发我一份吗?最好是基于STM32F103的 感谢! |
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testd020 发表于 2019-1-30 12:02 您好, 1、请在信号过零点测量RMS值,由于芯片对于RMS的计算方法,这样测试可以更准确一些,同时请读多次数值取平均值,这样可以降低误差。 2、IRQEN是控制IRQ引脚逻辑输出的使能,并不能干扰状态寄存器的值,您用的是交流信号么?信号的频率是多少?您可以试试设置IRQEN,这样IRQ引脚的输出会伴随状态寄存器而改变,通过检测IRQ引脚状态来观测是否有过零事件。 3、我们正在跟同事核查是否有这个例程,请您耐心等待。 谢谢 |
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1、如果需要读到芯片手册说明的精度范围,大概需要读多少次再取平均值呢?我需要读512次数值再去平均才能得到0.5%的精度,这个算正常读取的范围次数吗?
2、我是用交流信号的,30A,50Hz输入。按你的意思是IRQEN的设置和我状态寄存器的值无关,那为什么我ZX位一直为1的?但我用示波器看到ZX引脚是有过零信号(50HZ,脉冲)发出? |
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testd020 发表于 2019-1-30 12:19 您好, 1、我们所给出来的0.5%的精度都是给客户有余量的, 您这个次数在我这看是有问题的,咱们可以看数据手册的Figure 27,里面在GAIN为1的时候电压通道的RMS错误曲线,您所给的电压输入范围,理论上芯片的误差不应该达到如此。请问您的信号源输出电压精度高么?您的外围电路是什么样的?不过造成这个现象也有可能是由于您没在过零点读值,建议您参考手册中VRMS and IRMS Calibration部分,里面详细的讲解了校准过程和过零点读值的原因。 2、如果用示波器观测到ZX引脚有过零信号,证明信号是存在过零现象的,我之所以让您用检测引脚的方式检测,是考虑您的SPI通信程序和MCU速率未必检测的到这个状态寄存器。 3、经查找并未找到ADE7753相关例程,推荐您使用较新的芯片比如ADE9000,精度更高,动态范围更大。 谢谢 |
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