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AD5933跟AD59324区别主要在1、起始频率和频率递增量的计算 2、后者没有温度传感器。
我的问题：1、为什么简单更改起始频率和频率递增量后，求的阻抗结果完全不一样呢，就连读取的实部和虚部也不一样？ 2、既然价格相差这么多（前者几乎是后者的两倍），在不需要温度传感器和采样率要求的时候，更倾向于使用便宜的AD5934，那为什么简单的更换后结果却相差很大呢？ 
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5个回答
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正常情况下不是首先下意识怀疑自己哪里搞错了么？
除此之外请给出一些具体信息。毕竟都是在测阻抗，原则上不应该有很大的差别 为了避免误会我申明一下：我不是ADI的，我只是路过的 —————————————————————————— 更新一下： 1、我不是ADI的，我的回应只代表我个人。 2、 我只用过AD5933，但是，阻抗测试所测量的就是被测件的复阻抗，不管是什么片子，如果在工作条件下虚部实部差太多，那是没有道理的，所以肯定是在其他 的什么地方有问题，比如某次测试由于某些原因额外引入了寄生电容等等。如果你想要更快的解决问题，不妨把你的测试过程和测试电路贴出来，这样的话有经验的 人也许一眼就能告诉你其中有错误的或者需要差异化处理的地方在哪里。 3、你觉得你的电路不需要改，产品手册你也都看全了，所以一味认定是ADI产品有问题或者手册有重大遗漏。但是这两款产品都不算新，手册也都多次再版，假定自己出错是否才更为客观一些？ 4、http://designtools.analog.com/dt/ad593x/ad593x.html 希望对你有帮助 |
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谢谢楼上分享测量经验。
AD5933和AD5934，他们测量原理是一样的。有以下几点主要不同， 1. AD5934没有温度传感器 2. 激励信号的方程不一样： 3. ADC的采样率不一样 4. AD5933和AD5934的信号链路用的DDS和ADC不一样，实部、虚部出来的结果就不一样，但是测量阻抗是准确的。建议用被测电阻与校准电阻测量结果比较，而不是AD5933和AD5934比较。 |
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首先，感谢各位的回答，看了上面的回答，我想可能的原因在于上面所说的：AD5933和AD5934的信号链路用的DDS和ADC不一样，造成实部、虚部出来的结果不一样，那相位就不一样。但是我的设计中相位角是一个很重要的参数，因为一开始相位角错了，就导致了后续的算法算出来的结果就不正确，其实我的根本问题还是想问有什么办法来让他们的实部、虚部出来的结果一样？ |
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pengzhongdianzi 发表于 2018-11-14 18:31 话说相位角不可以在标准电阻校准时校准掉么? |
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pengzhongdianzi 发表于 2018-11-14 18:31 无法让AD5933和AD5934的实部和虚部出来结果一样。意义何在？ |
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