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近端相噪一般是由参考源、电源噪声主导的，建议您核查这两个方面。测试参考源的相位噪声，估算其对锁相环输出相位噪声的影响（20*logN），然后与测试结果比较。或者换用低噪声的电源模块试一试，例如ADP150
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dang28 发表于 2018-11-13 16:34 晶振是OCXO性能很好，电源直接由安捷伦公司的直流电压源接入。 |
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把晶振的相位噪声曲线和PLL输出的相位噪声曲线发出来看看呢？另外，您用的那个鉴相器芯片？除了前面说的两种原因外，其他数字低频干扰信号或地上的噪声也会恶化近端噪声。以这个电源为例，http://cp.literature.agilent.com/litweb/pdf/5968-7355CHCN.pdf ，电源直接出来的噪声比经过LDO后的噪声差。 |
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dang28 发表于 2018-11-13 16:58 这回复，看着满满都是泪。看来有人在这台电源上栽过跟头。 |
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dang28 发表于 2018-11-13 16:58 鉴相器4106，本来刚开始测试时达到-103dBc@1KHz左右，后来测试多了加的器件多了，共用电源的情况多了后（比如5V的电源要同时供给晶振，4106，放大器等），PCB板子上没有稳压芯片，电源直接介入芯片，近端相噪会跳动很厉害从-80多到-100多等。是电源的问题？ 由于数据是跳动的无法保存。 |
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CQuin 发表于 2018-11-13 17:25 尽量不要把PLL与其他可能产生噪声或干扰的芯片一起供电。 |
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