Aigtek高压放大器在压电双晶片动力学研究中的应用

电路

高压放大器在压电双晶片动力学研究中的应用

实验名称:压电双晶片动力学特性试验研究

研究方向：轴向预压缩双晶片动力学建模及其应用

实验内容:

（1）不同轴向力下的静态挠度实验：

利用激光位移传感器测试双晶片在不同电压、不同轴向力的最大挠度，测试其静态位移输出特性。双晶片的静态特性只与其刚度特性有关，包括其几何尺寸、基体与压电陶瓷的弹性模量等。

（2）不同轴向力下的模态实验：

双晶片是靠压电陶瓷的逆压电效应使其发生弯曲变形，双晶片应用于舵机上要求其具有较高的带宽，因此有必要测试其模态。双晶片的模态实验主要测试其一阶弯振频率、幅频特性等。利用激光测振仪测出双晶片在不同轴向力下的幅频特性曲线。双晶片的模态属性主要与其质量属性（包括基体与压电陶瓷的密度）、刚度属性、阻尼属性（阻尼比）等有关。

（3）不同轴向力下的瞬态特性实验。

双晶片的瞬态特性是指其在上电与关断过程中所表现的特性。响应快（毫秒级）是双晶片的重要特性之一，双晶片的响应时间是其重要的性能指标之一。为了分析轴向力对双晶片响应时间的影响，有必要进行压电双晶片的瞬态试验。

测试目的：研究轴向预压缩压电双晶片的性能，除了理论的方法外，还必须对双晶片进行实验研究，通过实验对模型进行验证。

测试设备:QDA60-20-0.7型压电双晶片、上位机系统、数据采集及保存软件、任意波形发生器、高压放大器(ATA-2032)

放大器型号:ATA-2032

实验过程:

1、根据压电梁不同的边界条件设计相应的试验夹具；

2、用夹具将压电双晶片固定好。

3、将激光位移传感器调节到适当位置，并将电路连接好；

4、通过试验测试双晶片挠度，并对数据进行处理和分析；

测试结果:

1、不同电压、轴向力下悬臂双晶片最大挠度实验结果

2、不同轴向力下悬臂双晶片的幅频特性

放大器在该实验中发挥的效能: 驱动压电双晶片，功率放大，电路匹配。

您选择该高压放大器的原因:对多种放大器进行过了解，最终选择ATA-2032，其性能满足要求（VPP300V，带宽500KHz,功率18W），本试验用到的压电双晶片的驱动频率要求为：0~300Hz，电压要求为0~100V，同时要保证在低频下信号不失真，一般的高压放大器很难满足低频驱动的要求，在低频下波形往往会失真，同时价格方面我们也可以接受，因此通过考察我们决定选用该放大器。

王栋春 · 2018-11-7 21:04:38

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