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X光光电子能谱仪 (XPS/ESCA)检测分析

2018-9-27 14:44:33 4725

0 XPS/ESCA原理就是藉由光电效应，当X光照射至样品内部时，原子内层的电子将被激发产生光电子，而只有靠近材料表面的光电子才能逃离被仪器测得。藉由分析此光电子，可得知表面元素组成种类，进而判断化学链结。 XPS可进行化学态分析(Chemical State Analysis)、纵深分析(Depth Profile)，分析材料表面各种元素分布的化学链结，且不受样品导电性限制。 iST宜特检测可以提供：表面污染/变色之成份分析(Surface survey) : 样品表面100A以内的成份分析。表面化学组态分析 (Narrow scan) : 样品表面100A以内的元素化学组态键结分析。样品氧化状况(氧化层厚度及氧化态)分析。多层薄膜纵深分析 (Depth Profile) : 藉由Ar 离子溅蚀样品的表面，得到不同深度的元素信号之纵深分布。图谱分析(Mapping) : 分析样品区域元素信号，得到区域元素分布影像图。线扫描(Line scan): 分析样品直线上的元素信号，得到直线元素分布图。 0
2018-9-27 14:44:33　　评论淘帖0 举报相关推荐 • X 光光电子能谱仪 (XPS/ESCA)检测分析 3809 • X射线光电子能谱分析技术XPS的详细教程免费下载 0 • X射线光电子能谱分析 8864 • 表面化学分析、电子能谱、X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求 0 • 数字滤波技术在气相紫外光电子能谱仪数据采集中的应用 15 • GB T 41072-2021 表面化学分析　电子能谱　紫外光电子能谱分析指南 0 • TZSA 39-2020 石墨烯测试方法功函数的测定紫外光电子能谱法 1 • 激光光电检测技术分析 15 • 激光电子打靶应用的基础 9750 • 电子能谱仪的工作原理是什么？ 2342