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我使用该芯片的ADC0、ADC1采集2mV的小信号，PGA均设定为128倍。
ADC0接AIN0正AIN3负的差分；ADC1接AIN1正AIN2负的差分。 一共焊接了六台样机，一开始的两周，测量功能完全正常： ADC0、ADC1的采样结果均是0.002516V 直到50℃温度测试的第15天，发现ADC0的采样结果完全错误，采样16次，结果都是4*10E-7这样接近0的值(每个值都不一样)。 为了排除电路原因引起的测量不准，我把原ADC1配置到ADC0那一路，也就是：ADC1接AIN0正AIN3负的差分；ADC0接AIN1正AIN2负的差分。结果，ADC0仍然是错的，ADC1仍然是对的。 所以这个故障和待测电路无关。 进一步调试，我发现把ADC0的PGA设定为1，也就是关掉PGA---测量结果就是准确的了。 用官方代码ADuCM360_361_Code_Examples_Function_LibrariesADuCM360361 code examples and function librariesexamplesADC_DMA 重复以上，现象相同。所以也不是代码引起的故障。 综上，我得出结论： ADC0的那一路PGA坏掉，ADC1的那一路PGA完好。 另外，芯片是直接国外进口的，应该不存在劣质品的可能。 那么问题来了： 1.什么样的恶劣条件会导致ADuCM360的PGA坏掉，而其他功能诸如串口、IO完全正常？ 2.单片机电路的哪一部分，具体是哪一个引脚的外围电路异常，会引起PGA坏掉？ 3.怎么样检测PGA坏掉，能否有方法百分之百的得出PGA是坏的这一结论？ 望ADI的技术人员解答，谢谢！ 
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谢谢回答，但我想不是过压的原因，系统主电源也才3.6V的锂电池而已，没有任何升压模块，测量的信号也仅仅是mV级别！ |
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不一定是过压原因，如果在电源没有上电的情况下， 施加了模拟信号，那么可能造成损坏 |
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