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芯片开盖去除封胶Decap
芯片失效分析时需分析内部的芯片、打线、组件时,因封装胶体阻挡观察,利用「laser蚀刻」及「湿式蚀刻」两种搭配使用,开盖(Decap)、去胶(去除封胶,Compound Removal),使封装体内包覆的对象裸露出来,以便后续相关实验处理、观察。 宜特检测对于各式各样的封装体皆有应对的手法,并且能提供良好的芯片开盖(Decap)、去胶(去除封胶, Compound Removal)方式,让您后续实验无往不利。 封装体开盖(Decap)LED、砷化镓芯片、车用芯片、光耦合芯片 特殊开盖(Decap)Backside、MEMS、封装材料制作、各式封装体拆解 化学法蚀刻分析弹坑实验、去焊油/污渍、化学蚀刻去光阻、Pin脚清洗 |
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【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块(MSP430F122+MAX491)
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