IDDT测试原理

2010-9-29 15:54:43 4729

0 IDDT测试原理　　IDDT测试是一种从供电回路，通过观察被测电路所吸取的瞬间动态电流来检测故障的一种方法，被认为可以检测出一些经电压测试和IDDQ测试所不能检测的故障(像开路故障(stuck-open fault)、冗余故障(redundant fault)和时延故障(delay fault)等)。　　如图1所示，输入向量(测试向量)施加到被测集成电路的信号输入端，利用脉冲信号的上升沿和下降沿，CMOS电路中的PMOS和NMOS晶体管会有瞬间的共同导通，这样就在电源(VOD)和地(GND)之间形成一条通路，此时会有相对比较大的电流流过，这个电流就是IDDT。通过检测IDDT的大小，便可知被测电路是否存在缺陷。 0
2010-9-29 15:54:43　　评论淘帖0 举报相关推荐 • PCB应力测试报告测试模板 14 • 高速ADC的特征测试和生产测试方法 2 • 电源测试大全之常规功能测试 1 • 电机性能测试系统的测试步骤 3 • 什么是回归测试_回归测试的测试策略 235 • 接口测试是测试什么内容 1267 • IGBT的测试 3 • 静态测试和动态测试的流程 902 • 车载测试是什么车载测试介绍 4288 • 局部放电测试的测试原理介绍 7446 3 个讨论