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【作者】:徐亚东;介万奇;何亦辉;查钢强;王涛;王军;
【来源】:《光电子.激光》2010年03期 【摘要】:基于自制的CdZnTe(CZT)平面探测器(10 mm×10 mm×2.5 mm),研究其对未经准直241Am(59.5 keV)γ射线连续10 h的光谱响应变化规律,未发现极化现象,并验证了其具有较好的长期稳定性。制备CZT弗里希电容栅格探测器(10 mm×5 mm×10 mm),测试发现,其对未经准直能量为662 keV137Csγ射线的能量分辨率约为3.65%。 【关键词】:CdZnTe(CZT)探测器;;极化;;电子迁移率寿命积(μτ)e;;γ射线 【DOI】:CNKI:SUN:GDZJ.0.2010-03-004 【正文快照】:1引言CdZnTe(CZT)探测器由于其使用过程无需制冷,对能量10~600 keV内的X/γ射线具有较好的能量以及空间分辨率,且能耗小、集成度高和可长时间连续工作等,成为目前核医学成像、天体物理观测和安全检查等领域理想的X/γ射线探测器[1~3],然而CZT材料在制成探测器时较易出现极化效 |
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