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` 高精度晶圆边界和凹槽轮廓尺寸测量系统 1.系统外观参考图 (系统整体外观图, 包括FOSB和FOUP自动系统, 洁净室) 2.测量原理 线单元测量的原理是和激光三角测量原理一样,当一束激光以某一角度照射在被测物体表面,由于被测物体表面存在漫射的原因,漫射后的光线可以被CCD相机接收到, 由于物体表面漫射点位置的不同, 通过激光照射点的位置高度不同,所接受散射或反射光线的角度也不同,用CCD相机接收到光斑像的位置,从而计算出被测物体和激光点的距离。当一束光线照射在被测物体的一个面上时候, 旋转被测试的物体或是移动整束激光,即可以测量到被测物体完整的轮廓和外形尺寸. 通过相应的传感器, WATOM系统可以对以下常见的晶圆边界条件进行进行测量, 同时根据设定的条件自动进行判断. (典型的晶圆边界尺寸测量要求和Notch的尺寸要求, 再次需要说明的是本产品是独一无二的测量技术, WATOM LS系统是目前全世界唯一可以测量Notch凹槽(定位槽)内部尺寸的设备) 3.系统的特点总结 § 无接触测量 § 非破坏性测量 § 零磨损 § 适用于各种材质晶圆的尺寸测量 § 极高的测量速度 § 高精度和重复性, 测量精度可以到1u § 非常灵活, 适用于各种尺寸晶圆测量 § 全世界唯一能够测量Notch内部尺寸的设备. § 测量结果自动直观显示, 并可以设定不同尺寸的公差带, 测量结果和公差带有差别时候可以以不同的颜色直接显示提醒出来 § 不合格判定非常容易, 设定各种边界条件后系统自动报警. § 不同用户管理权限和界面, 以防止误操作和参数修改. § 基于SEMI M73标准下的晶圆外形计算软件. § GEM-SECS 数据接口 § OCR codereader和Carrier ID reader以方便记录追溯源. 4.系统的基本数据
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