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失效分析 I-V 电性量测 (I-V Curve)

2018-8-24 09:02:36 13438 失效分析

0 I-V Curve 电特性量测原理是，利用自动曲线追纵仪电特性量测的方式，快速计算阻值，藉此确认各脚位(Pin)关系并实时筛检出异常(Open / Short)，另可产出曲线图文件。提供DC组件及导体组件特性量测、电性失效分析量测(EFA, Electrical Failure Analysis)、测I-V、量曲线及曲线绘图(IV Curve)，其特点是可一次量测样品各脚位的阻値差异，脚数最多达最多1024 Pins 。宜特支持度高，建置多种封装形式的Socket 快速便利，可快速比对出电性异常的脚位，并分类故障原因。弹性量测方式，有多种量测模式可选择。(EX: Pin-all, Pin-pin)。 0
2018-8-24 09:02:36　　评论淘帖0 举报相关推荐 • [封装失效分析系列之二] eFA：直流测试原理，I-V Curve与热定位方法 43967 • 吉时利精密直流I-V、交流阻抗以及超快I-V测量电 0 • 精确的光伏 I-V 特性分析 876 • 精确的光伏 I-V 特性分析 8 • I-V转换电路opa如何选型？ 233 • 精确的光伏 I-V 特性分析 629 • I-V、V-I转换电路设计报告分享 3660 • 有哪些常用的V-I、I-V转换电路？6个常用的V-I、I-V转换电路详细介绍 139 • 这个I-V变换有问题么？ 3211 • labview measure I-V是自带的吗？ 2031 1 个讨论