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NPI 歌尔
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  • 弹坑的形成 芯片弹坑的形成主要是由于压焊时输出能量过大,‌导致芯片压焊区铝垫受损而导致裂纹。‌弹坑现象在Wire Bonding封装过程中是一个常见的问题,‌‌弹坑和Pad失铝都是在封装过程中压焊芯片时产生的不良现象。‌...
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  • 当一束X射线入射到晶体时,首先被原子(电子)所散射,每个原子都是一个新的辐射源,向空间辐射出与入射波同频率的电磁波。由于晶体是由原子、分子或离子按一定规律排列成的晶面组成,这些按周期平行排列的晶面的间距与入射X射线波长有...
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  • 黑盘缺陷分析-Black-Pad-Defect PPT...
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  • 从本质上讲,SEM "观察"样品表面的方式可以比作一个人独自在暗室中使用手电筒(窄光束)扫描墙上的物体。从墙的一侧到另一侧进行扫描,手电筒再逐渐向下移动扫描,人就可以在记忆中建立起物体的图像。SEM是...
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  • 01 —— 芯片制作流程 芯片制作完整过程包括:芯片设计、晶片制作、封装制作、成本测试等几个环节,其中晶片片制作过程尤为的复杂。下面图示让我们共同来了解一下芯片制作的过程,尤其是晶片制作部分。首先是芯片设计,根据设计的需...
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  • 共读好书 审核编辑 黄宇...
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  • 碳化硅晶体的生长原理 在自然界中,晶体不胜枚举,其分布及应用都十分广泛。例如日常生活中随处可见的盐、糖、钻石、雪花都是晶体;此外,半导体晶体、激光晶体、闪烁晶体、超硬晶体等晶体材料在工业、医疗、半导体及众多科研领域也发挥...
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  • 共读好书 审核编辑 黄宇  ...
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  • 共读好书 晶圆制造工艺流程 1、 表面清洗 2、 初次氧化 3、 CVD(Chemical Vapor deposition) 法沉积一层 Si3N4 (Hot CVD 或 LPCVD) 。 (1)常压 CVD (Nor...
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  • 芯片失效分析是指对电子设备中的故障芯片进行检测、诊断和修复的过程。芯片作为电子设备的核心部件,其性能和可靠性直接影响整个设备的性能和稳定性。 随着半导体技术的迅速发展,芯片在各个领域广泛应用,如通信、计算机、汽车电子和航...
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  • ESD的原理和测试

    2024-7-26 08:39
    共读好书 静电放电(ESD: Electrostatic Discharge),应该是造成所有电子元器件或集成电路系统造成过度电应力(EOS: Electrical Over Stress)破坏的主要元凶。因为静电通常瞬...
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  • 共读好书 系统及原理   双束聚焦离子束系统可简单地理解为是单束聚焦离子束和普通SEM之间的耦合。 单束聚焦离子束系统包括离子源,离子光学柱,束描画系统,信号采集系统,样品台五大部分。 离子束镜筒顶部为离子源,离子源上施...
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  • CPU生产工艺图解

    2024-7-26 18:07
    共读好书 CPU是现代计算机的核心部件,又称为“微处理器”。对于PC而言,CPU的规格与频率常常被用来作为衡量一台电脑性能强弱重要指标。Intelx86架构已经经历了二十多个年头,而x86架构的CPU对我们大多数人的工作...
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  • 共读好书 审核编辑 黄宇...
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  • 八大芯片材料详解

    2024-7-21 15:42
    共读好书 审核编辑 黄宇  ...
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