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jf_05111693

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技术工程师广东博仕检测科技有限公司

广东省广州市丨测试测量

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首样免费扫描电镜SEM-EDS测试分析【博仕检测】

jf_05111693
技术工程师

【设备应用】 SEM是扫描电子显微镜，用二次电子成像的原理来观察某种物质的微观形貌。EDS是能谱仪，是每种元素对应的电子能不同，来鉴别元素，通常与SEM结合使用，也就是说在SEM上安装EDS附件，在观看形貌时，选择一 ...

来源：测试测量技术
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半导体芯片结构分析

jf_05111693
技术工程师

一个芯片上可以包含数亿～数百亿个晶体管，并经过互连实现了芯片的整体电路功能。经过制造工艺的各道工序后，这些晶体管将被同时加工出来。并且，在硅晶圆上整齐排满了数量巨大的相同芯片，经过制造工艺的各道工序后 ...

来源：测试测量技术
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聚焦离子束FIBSEM切片测试【博仕检测】

jf_05111693
技术工程师

聚焦离子束-扫描电子显微镜双束系统 FIB-SEM应用聚焦离子束-扫描电镜双束系统主要用于表面二次电子形貌观察、能谱面扫描、样品截面观察、微小样品标记以及TEM超薄片样品的制备。 1.FIB切片截面分析 FIB-SEM测试 FIB ...

来源：检测与认证

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