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联讯仪器

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产品升级 56Gbaud CR6256！400G/800G单多模光模块及接口的时钟提取
2024-8-12 17:58

产品描述联讯仪器CR6256是结构紧凑、经济高效的台式高速信号时钟恢复单元。支持24.33~56.25 Gbaud速率下的NRZ/PAM4信号时钟提取，广泛应用于400G/800G单多模光模块及接口的时钟提取。 ...

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新品发布 rBT3250-50G突发误码分析仪，支持突发和连续模式信号输出及误码测试
2024-7-26 18:35

联讯仪器rBT3250是专门针对下一代25G/50G无源光网络(PON)应用的光线路终端(OLT)测试新型突发误码分析仪，用于评估突发模式下的25G及50G OLT接收机性能。产品整体设计能够大大简化测试设置及系统配置，...

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新品推介|联讯仪器双通道高精度台式源表S2026H
2023-11-20 11:21

联讯仪器双通道高精度台式源表S2026H，pA级电流测量精度，广泛应用于漏电流，暗电流等小电流的高精度测量，支持双通道同步触发，单台仪表即可对完成三端口器件的高精度同步扫描测试。...

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联讯仪器WAT半导体参数测试系统简介
2023-11-6 16:27

联讯仪器WAT 半导体参数测试系统基于自主研发pA/亚pA高精度源表，半导体矩阵开关，高电压半导体脉冲源，3500V高压源表等基础仪表，掌握核心技术，通过优化整机软硬件设计，进一步提高系统精度，提升稳定性，一致性，为半导...

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国产源表的优势和应用前景分析：联讯仪器参数对比
2023-7-19 16:44

在电子测试和测量领域，源表是重要的工具，无法或缺。国产源表如联讯仪器S3022F和S3012H在性能和功能方面已经能够与进口源表相媲美。首先，进口源表以其高精度、稳定性和多功能性而闻名。然而，近年来，国产源表取得了显...

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联讯仪器 | CoC分选机
2023-7-20 00:00

CoC(ChiponCarrier)/CoS（ChiponSub-mount）架构已成为二极管/激光器的流行封装样式。CoC通常采用定制的wafflepack或者Gel-Pak来运输存储，并在测试老化等不同工序流转。由于...

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联讯仪器裸Die半导体激光器芯片测试机
2023-7-20 00:00

芯片良率是影响企业成本的重要因素之一，半导体激光器属于化合物半导体，其主要材质以非常脆的砷化镓、磷化铟为主，在其制备的各个工艺环节，良品率不高是一个普遍问题。以国外知名芯片企业为例，其生产能达到70%以上良率，但后道封装...

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联讯仪器 | CoC老化系统
2023-7-20 00:00

“半导体激光器是光收发模块核心器件，其稳定性直接影响模块的产品质量，CoC老化测试是一种有效的剔除早期CoC产品失效的筛选方法。联讯仪器CoC老化测试设备通过控制老化温度，老化电流，老化时长等测试条件，对老化前后的激光器...

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联讯仪器 | CoC全自动测试系统CT6201
2023-7-20 00:00

“半导体激光器通常根据老化前（Pre-BurnIn）及老化后（PostBurn-In）测量的一个或多个关键运行参数的变化进行筛选，剔除早期失效，提高产品可靠性，这些参数通常包括阈值电流，在特定工作条件下的输出光功率，达到...

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全新升级 | DCA6201-支持单波100G PAM4及50G PON眼图测试
2023-7-19 00:00

联讯仪器DCA6201采样示波器最多支持4路53Gbaud PAM4 眼图测试，结构紧凑，成本低，测试速度快，适合400G / 800G 光模块的研发和批量生产...

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联讯仪器 | 推出25G/50G突发误码仪
2023-7-20 00:00

联讯rBT2250突发误码仪随着10GPON网络部署和实施，下一代50GPON网络的标准也已经完善：2018年，ITU/FSAN启动了基于单波长50GPON标准的制定工作，命名为G.HSP（G.HigherSpeedPO...

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400G以太网光模块发展及联讯测试方案
2023-7-21 00:00

云计算，VR/AR，AI，5G等技术的应用对流量的需求非常大，流量的爆炸性增长需要更高的带宽，其中数据中心网络传输距离通常较短，但是对带宽需求更大。目前，数据中心不同机房间的互联以及多个数据中心之间的互联场景正逐步向40...

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新品 | 联讯仪器 PXIe 精密源表S2013C，高速高精度测量！
2023-7-18 00:00

联讯仪器PXIe源测量单元(SMU)集成高精度源和测量单元，可利用PXIe源测量单元构建高密度并行测试系统，以满足大规模半导体集成电路的高通道密度，并增加配置的灵活性，最大化测试效率，降低测试成本。...

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新品 | 联讯仪器全新推出低泄漏电流开关矩阵RM1010-LLC
2023-5-21 08:32

在半导体元器件生产研发或者半导体晶圆封测过程中需要进行电性能参数的表征，这些测量需要将精密源表(Source/MeasureUnit），LCR表（LCRMeter），数字万用表(DigitalMulti-Meter）等多...

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新品 ┃ 联讯仪器全新推出200V PXIe 精密源表S2012C
2023-1-30 17:09

联讯仪器全新推出PXIe精密电源/测量单元S2012C。其最小测量分辨率达10fA/100nV，输出电压高达±200V。...

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