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Manager runhe
江苏省 南京市 设计开发管理
  • 赞同了文章 2022-10-18 15:12
    CP最大的目的就是确保在芯片封装前,尽可能地把坏的芯片筛选出来以节约封装费用。所以基于这个认识,在CP测试阶段,尽可能只选择那些对良率影响较大的测试项目,一些测试难度大,成本高但fail率不高的测试项目,完全可以放到FT阶段再测试。这些项目...
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  • 加入了小组 2022-10-18 14:58
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