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从晶圆测试角度来看，使小芯片（Chiplet）成为主流技术所面临的最大挑战是什么？
2022-12-23 14:10

由于测试芯片的复杂性和覆盖范围的原因，单个小芯片对复合材料成品率下降的影响正在为晶圆测试带来新的性能要求。从测试的角度来看，使小芯片成为主流技术取决于确保以合理的测试成本获得“足够好的模具”...

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超低噪声测量利器，cascade 探针台CM300xi-ULN
2022-12-23 14:09

FormFactor的新型CM300xi-ULN（超低噪声）是一种革命性的300毫米晶圆探测系统，设计用于高精度闪烁噪声（1 / f），随机电报信号噪声（RTN或RTS）以及超灵敏设备的相位噪声测量。借助获得专利的...

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Cascade，自动化DC测量，具有智能接触功能的自动DC测量
2022-12-14 15:21

自动化DC测量概述凭借 FormFactor 的Contact Intelligence技术，操作员可以在整个班次中（整夜甚至整个周末）开始测试并让系统保持测量状态，而无需任何用户干预。探针经过动态校正，以补偿温度变化...

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PA200 BlueRay 概述
2022-12-14 15:13

半自动或全自动高吞吐量测试 PA200 BlueRay™ 可实现光电（如 LED）、MEMS（比如压力传感器）和 RF（例如 SAW/BAW 滤波器）器件的高吞吐量功能测试。其精度可确保平稳的探针降落，具有安全、可重复的...

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具有集成硅光芯片和晶圆级测试的300mm探针台
2022-11-8 14:59

CM300xi-SiPh 概述具有集成硅光芯片和晶圆级测试的300mm探针台 CM300xi-SiPh 300mm探针台是市场上第一个经过验证的硅光测量方案，安装后即可进行经过工程和生产验证的优化光学测量。独特的自动S...

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3个探针系统升级软件包，使您的测试能力更上一层楼
2022-10-28 14:44

对客户的承诺的一部分是我们对客户服务的热情，这可以从我们的探针系统支持和服务协议直接看出。在较早的博客中，我们分享探测系统服务协议有意义的6个原因，在这里，我们将分享为什么性能和生产力提升是我们支持承诺的另一个组成部分。...

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EPS200MMW专用探头系统的5个优点
2022-10-9 14:32

该EPS200MMW探针系统满足67 GHz以上高级应用的测量需求，特别是在100 GHz及以上。类似于EPS150MMW平台，EPS200MMW采用成熟的设计方法设计，可实现同类产品中最高的测量精度。 EPS200MM...

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通过实时原位校准缩短数据采集时间
2022-9-9 15:19

我们最近推出了一些革命性的新产品硅光子学（SiPh）的探测功能CM300xi探针台。这些新功能之一是独有的OptoVue Pro™。 OptoVue Pro位于CM300xi的辅助卡盘位置，包括功能丰富的工具集，可提...

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定制150毫米模块化探针台，价格从$ 13,880起
2022-9-6 15:10

现在，您可以以低得难以置信的价格定制带有灵活模块的FormFactor 150毫米探针台！这使您可以更轻松地为当前和将来的需求配置单独的探针解决方案。只需选择一个基站，然后根据需要添加任意数量的特定于应用程序的入门套件。...

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使用Infinity和InfinityXT探针提高生产率
2022-7-15 14:19

Infinity探头通过确保在铝垫上进行更好的测量，减少重新探测和测量数据中的误差，树立了新的标准。了解它如何提高工程师的生产率。我们的设备表征和建模的理想选择InfinityProbe®系列产品在铝垫上具有极低的接触...

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验证互联汽车和物联网的IC封装要求
2022-7-7 14:28

随着联网汽车的日益流行，未来的成功将继续部分取决于为连接性提供动力的半导体和芯片的耐用性，并且根据它们在车辆中的位置，存在不同的验证要求随着联网汽车变得越来越主流，未来的成功将继续部分取决于为连接提供动力的半导体和芯片...

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启用和优化硅光子耦合
2022-7-7 14:25

硅光子学设备的测量需要光学以及高速数字功能。我们集成的SiPh解决方案允许对位于晶片上方的光纤进行亚微米处理，从而自动优化光纤耦合位置。硅光子学（SiPh）技术正在发现数据中心应用的早期应用，其中可能会出现汽车LIDA...

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低温晶圆测试正在升温——低温测试仪
2022-7-7 14:22

近年来，晶片上超导材料，其他新型材料和传统半导体在低温下的使用迅速增长。我们凭借无与伦比的强大功能组合，在高通量低温晶圆测试中处于领先地位近年来，在低温（低于123K或-150°C）下，晶圆上超导材料，其他新型材料和传...

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CM300xi-ULN探针台的简单介绍
2022-7-6 14:31

在本文中，我们将探讨探针台系统消除低噪声实验室优化固有的高成本工具部署问题的能力。...

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CM300xi-ULN探针台的独特之处
2022-7-6 14:29

在这篇文章中，我们将涵盖实现高吞吐量闪烁噪声测量。闪烁和RTN噪声测试可能需要很长时间，尤其是在测量频率低至1 Hz或更低的情况下。单一温度下的扫描时间通常长达30分钟。器件模型的标准数据采集需要在多个温度下在小衬垫上的...

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