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可靠性基础知识第二期
2023-4-11 16:25

1.快速温变和冷热冲击的区别? 快速温变和冷热冲击都统称温度变化。温度变化的方式有两种:一种是规定温度转换时间，一种是规定转换率。前者是非线性，后者是线性。所以目前大多数实验室按照温变率的界定，把前者定义为冷热冲击，把后...

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可靠性基础知识第一期
2023-4-3 16:45

1.什么是可靠性? 可靠度(Reliability)也叫可靠性，指的是产品在规定的时间内，在规定的条件下，完成预定功能的能力。它包括结构的安全性、适用性和耐久性，当以概率来度量时（定量），称可靠度。 2.什么是规定条...

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【可靠性试验分享专栏】关于可靠性，应该了解的那些知识
2023-3-27 15:09

1.定义与概念可靠性试验是为了保证产品在规定的时间内，在规定的条件下，包括运输、储存、使用，完成规定功能的能力而进行的活动。环境试验是将产品暴露在自然或者人工的环境条件下，模拟产品在实际坏境条件下的性能，并进行评估分...

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ESD与EOS失效案例分享
2023-3-13 17:02

ESD过电应力目前，在电子元器件失效分析领域，我们发现ESDEOS的关注与日俱增。上一期的分享，ESD与EOS知识速递我们着重介绍了ESD与EOS的概念与差异。本期内容主要涉及两者在实际情况中的失效表现，其中选取了部...

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ESD与EOS知识速递
2023-3-8 16:30

ESD过电应力 ESD烧损图示 EOS烧损图示 FIRST概念定义 ESD 英文全称：Electrostatic Stress Discharge 中文译名：静电释放定义：静电释放就是静电从一个物体突然的，自发的传...

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芯片“爆米花”现象探究
2023-2-27 16:05

No.1什么是“爆米花”现象？答：爆米花现象，是湿敏器件在受潮后，经过高温热处理环节时，如回流焊、波峰焊等，导致器件内部气体膨胀，进而将器件撑起，甚至破坏塑封胶体或基板。并且在冷却过程中，由于器件内部材料热胀冷缩速率不...

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电阻膜腐蚀导致电阻发生不良的失效分析
2023-2-20 15:37

引言电阻失效发生的机理是多方面的，环境或工作条件若发生变化都有可能造成电阻的失效。其中，因外部水汽或其它腐蚀性气体等造成电阻膜腐蚀，进而导致电阻开路或阻值变大的失效情景时有发生。本文依据此，进行案例分享。案例分享 ...

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芯片底部焊接不良失效分析
2023-2-14 15:57

No.1 案例背景当芯片底部出现焊接不良的问题时，我们可以怎么进行失效分析呢？本篇案例运用X-ray检测——断面检测——焊锡高度检测——SEM检测的方法，推断出芯片底部出现焊接不良的失效原因，并据此给出改善建议。 N...

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傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）知识速递
2023-1-9 10:06

1.概念定义傅里叶变换红外光谱仪(Fourier Transform Infrared Spectrometer，简写为FTIR Spectrometer)，简称为傅里叶红外光谱仪。 2.工作原理红外光谱属于吸收光谱...

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rohs 2.0标准
2023-1-3 14:12

RoHS 知多少定义 RoHS是《电气、电子设备中限制使用某些有害物质指令》（Restriction of Hazardous Substances）的英文缩写。 2019年7月22日，RoHS 2.0正式公布。关...

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芯片失效分析常见的分析方法有哪些
2022-12-19 11:14

芯片失效是指芯片由于某种原因，导致其尺寸、形状、或材料的组织与性能发生变化而不能完满地完成指定的功能。...

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可焊性试验方法指引
2022-12-12 09:27

No.1 定义 Q:什么是可焊性测试？ A:可焊性测试（Solderability）指通过润湿天平法的原理对元器件、PCB板、PAD、焊料及助焊剂等可焊接性能做定性与定量的评估。其对现代电子工业的1级（IC封装）、2级...

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二极管烧损分析案例
2022-11-28 14:58

某门铃在使用一段时间出现门铃失效，将失效样品剥离，发现二极管烧损，通过表面观察、通电间断性检测、静电击穿、切片分析、SEM分析等手段对样品进行分析，发现靠近二极管的位置存在热应力与机械应力的集中区，加速了二极管的烧损进程...

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PCB熔锡不良现象背后的失效机理
2022-11-21 11:05

样品信息 #1为失效样品，取#1样品中的RG11；#2为非同周期PCB板，取#2样品中的C37。 #1样品 #2样品分析过程外观分析说明：#1样品RG11失效位置呈现无Sn润湿状态或退润湿状态，PAD面平整，有...

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QFP接地虚焊分析
2022-11-14 13:24

某QFP器件发生不良，不良率约10%，初步判断为接地焊点可能存在虚焊现象。...

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