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elefans66

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工程师睿晟自动化

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收藏了帖子 2022-7-29 09:03

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影响扫描电镜（SEM）的几大要素？

淘淘发烧友
管理师苏试宜特（上海）检测技术股份有限公司

本帖最后由淘淘发烧友于 2019-7-26 16:57 编辑影响扫描电镜的分辨本领的主要因素有：分辨率 A. 入射电子束束斑直径：为扫描电镜分辨本领的极限。一般，热阴极电子枪的最小束斑直径可缩小到6nm，场发射电子枪 ...

来源：芯片测试与失效分析
收藏了帖子 2022-7-29 09:01

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聚焦离子束应用介绍

advbj
市场探针台

5.材料鉴定应用IC芯片电路修改等FIB技术的在芯片设计及加工过程中的应用介绍：1.IC芯片电路修改用FIB对芯片电路进行物理修改可使芯片设计者对芯片问题处作针对性的测试,以便更快更准确的验证设计方案。若芯片部份区 ...

来源：测试测量技术标签：聚焦离子束
收藏了帖子 2022-7-29 09:00

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透射电镜（TEM）

邵工
技术工程师广东金鉴实验室科技有限公司

`1.设备型号TF20 场发射透射电镜，配备能谱仪 2.原理透射电子显微镜（Transmission electron microscope，缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变 ...

来源：芯片测试与失效分析

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