h1654155365.4932的文章_测量仪表,汽车电子,经理 - 电子技术论坛

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经理广电计量

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他的文章发文章

车规级 | 功率半导体模块封装可靠性试验-热阻测试
2024-7-5 10:22

在因为功率器件相关原因所引起电子系统失效的原因中，有超过50%是因为温度过高导致的热失效。结温过高会导致电子系统性能降低、可靠性降低、寿命降低、引发器件结构内部的缺陷。随着器件小尺寸化、高集成化的趋势，有限的空间承载的功...

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技术分享 | AEC-Q007中组件焊点开裂原因分析及相关车规标准介绍
2024-6-11 16:06

本文系统梳理了焊点开裂典型失效模式、失效机理，并整理了AEC-Q007及业内日系、德系等主机厂对应检验标准。...

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合作案例｜钧联电子自主研发的SiC功率模块顺利通过AQG-324认证
2024-5-17 14:45

2024年3月，合肥钧联汽车电子有限公司（以下简称“钧联电子”）自主研发的SiC功率模块（型号JLBH800N120SAM）顺利通过AQG-324车规级功率模块可靠性测试认证，广电计量提供本次AQG324车规级可靠性测试...

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功率器件环境可靠性测试的加速老化物理模型
2024-4-23 11:31

高温栅偏（HighTemperatureGateBias，HTGB）、高温反偏（HighTemperatureReverseBias，HTRB）、高温高湿反偏（HighHumidityHighTemperatureRev...

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技术分享 | ISO 26262中的安全分析之FMEA
2024-4-15 11:32

本期内容以系统架构设计为例，讲解如何在ISO26262产品开发过程中实施安全分析，半导体层面的芯片设计也可以参考本文相关内容执行安全分析。安全分析方法ISO26262要求根据不同ASIL等级组合地使用“演绎分析”和“归纳...

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一文了解整车EMC测试
2024-4-12 08:37

EMC测试概述EMC测试基本概念EMC是指电磁兼容性，它是指电子设备在电磁环境下正常工作且不对周围环境造成不良影响的能力。EMC测试就是评估电子设备在电磁环境下工作时所产生的电磁干扰（EMI）和电磁敏感度（EMS），是产...

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技术分享 | 芯片粘接空洞的超声检测
2024-4-11 11:48

随着电子封装技术向小型化发展，芯片散热问题逐渐成为阻碍其具有高可靠性的瓶颈，特别是功率器件，芯片粘接空洞是造成器件散热不良而失效的主要原因。因此，在对元器件的筛选检测工作中，往往需要通过超声检测手段，检测并评价芯片粘接质...

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NVH技术干货 | 汽车零部件调制音问题分析研究
2024-4-10 10:42

在实际工程中，越来越多的汽车零部件（带小电机、螺杆等）会出现调制现象，如波浪音、沙沙音、哒哒声等，会给人不悦的感觉，本文结合实际工程案例，讨论零部件出现调制音问题的主要原因和分析方法，并从后期整改端和前期设计端给予一定的...

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专家访谈 | 关注汽车数据安全监管与合规：不同应用场景适用哪些法律法规？（汽车安全③：数据安全）
2024-4-9 11:29

随着智能网联汽车的普及、自动驾驶技术的发展，汽车已成为智能手机外又一重要的数据采集端口。汽车通过摄像头、传感器、麦克风、雷达、娱乐系统等车载设备收集驾驶员与乘客的个人信息、高精地图信息、环境地标信息，用于提高用户驾驶体验...

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专家访谈 | AI如何助力汽车功能安全？（汽车安全②：功能安全）
2024-4-8 15:42

在汽车行业中，确保功能安全至关重要。开发汽车功能需要一个严格的流程来最小化风险并增强安全性。本期“专家访谈”栏目，我们邀请到广电计量汽车功能安全经理曹铭，为大家介绍汽车功能开发期间的完整功能安全流程，并解读人工智能（AI...

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技术分享丨AEC-Q102-003认证介绍
2024-3-19 11:43

2022年8月汽车电子委员协会（AEC）正式发布了AEC-Q102-003光电多芯片模组（OE-MCMs）的认证标准。Q102-003标准颁布的目的是在AEC-Q104多芯片模组的基础上对含光电多芯片模组的实际测试细节进...

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专家访谈 | 汽车信息安全强标即将落地，企业该如何应对？（汽车安全①：信息安全）
2024-3-12 17:34

智能网联汽车信息安全随着信息技术的快速发展和智能化趋势的持续推进，智能网联汽车为人们出行带来了前所未有的便利和智能化体验，但是随之而来的用户隐私泄露和网络攻击等安全问题也敲响了警钟。信息安全问题已成为制约智能网联汽车发展...

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专家访谈 | FPGA到底是啥？如何做好FPGA质量控制与测试？
2024-3-4 09:37

随着数字化、智能化装备的爆发式发展，具备更高可靠性、更高集成性的FPGA产品，依靠自身的自定义编程设计、可重复性修订等特性，成功取代了传统堆叠化电子元器件设计方式，应用到装备的设计中去。未来电子信息领域，硬件装备软件化设...

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可靠性测试中HALT实验与HASS实验的区别
2024-1-30 10:25

电子产品高加速寿命测试HALT、高加速应力筛选测试HASS，都是可靠性测试的方法，用于评估电子产品在恶劣环境下的性能表现和可靠性。那他们之前的区别是什么呢，跟随本文来一起了解。...

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专家访谈丨中国“芯”饱受良率之痛，芯片制造该如何破局？
2024-1-16 15:20

芯片被称为信息产业的粮食和“大脑”，是信息社会的基石，在信息化、智能化不断加快的今天，芯片已经成为战略性、基础性产业。可以说，芯片作为支撑中国经济持续高质量发展、特别是支撑战略性新兴产业崛起，其地位更是无可替代。然而，芯...

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