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金鉴邵工

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失效分析工程师广东金鉴实验室科技有限公司

广东省广州市丨测试测量

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芯片透射电镜测试—竞品分析
2022-5-12 18:03

芯片透射电镜测试，量子阱位错，膜厚分析，芯片解剖...

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LED芯片失效的原因分析
2022-5-12 17:44

LED芯片对温度非常敏感，甚至有观点表示“温度升高10℃，LED芯片寿命缩短一半”。...

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氩离子抛光离子研磨CP制样氩离子抛光制备EBSD样品效果分享
2022-4-27 19:30

氩离子抛光技术又称CP截面抛光技术，是利用氩离子束对样品进行抛光，可以获得表面平滑的样品，而不会对样品造成机械损害。去除损伤层，从而得到高质量样品，用于在SEM，光镜或者扫描探针显微镜上进行成像、EDS、EBSD、CL、...

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FIB技术在印刷线路板PCB失效分析的应用
2022-3-15 09:23

聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为FIB-SEM双束系统后，通过结合相应的气体沉积装置，纳米操纵仪，各种探测器及可控的样品台等附件成为一个集微区成像、加工、分析、操纵于一体的分析仪器。其应用范围也已经...

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PCB线路板镀层可靠性和失效分析
2021-8-6 09:39

随着电子设计朝轻薄方向发展，PCB制造工艺中的高密度集成（HDI）技术使终端产品设计更加小型化，同时满足电子性能和效率的要求。HDI目前广泛应用于手机、数码、汽车电子等产品。HDI盲孔底部裂纹等异常是高密度互连印制电路板...

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浅谈PCT试验方法及条件
2021-7-14 13:53

压力蒸煮锅试验（PCT）结构：试验箱由一个压力容器组成，压力容器包括一个能产生100%（润湿）环境的水加热器，待测品经过PCT试验所出现的不同失效可能是大量水气凝结渗透所造成的。...

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FIB-SEM技术及其应用介绍
2021-7-14 11:16

对比与传统的电解双喷，离子减薄方式制备TEM样品，FIB可实现快速定点制样，获得高质量TEM样品。...

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新型高端电容切片制样方式:氩离子研磨抛光/离子研磨CP
2021-4-28 11:39

切片分析技术在电子元器件行业中是最常见的也是重要的分析方法之一，通常被用作品质判定和品质异常分析、检验PCB电路板、电容品质的好坏、电容电阻质量检测、寻找失效的原因与解决方案、评估制程改进，做为客观检查、研究与判断的根据...

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UV-LED紫外灯杀菌效果评估
2021-4-28 11:57

随着紫外线LED的功率提升与技术精进，在市场上已经借由安全、环保、小巧等性能以及无化学残留等优势逐步取代了较低功率的紫外线水银灯管。金鉴实验室通过以往的UV LED杀菌测试案例总结发现品牌、灯珠灯具类型、波长、发光效率、...

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如何快速鉴定芯片真伪
2021-4-28 13:53

LED灯具最核心的是芯片，直接决定了灯具的性能！然而某些不良商家利用客户的不专业，从成本上面考虑，使用工艺不够稳定的厂家的芯片，然后号称Cree、欧司朗、日亚或晶元的芯片，使客户用高单价买到低品质的产品造成直接经济损失，...

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LED支架金属镀银层厚度测量
2021-4-28 14:06

某器件厂因产品问题被投诉，故怀疑其支架供应商产品有缺陷，委托金鉴实验室分析其支架镀层结构及厚度。金鉴工程师取样品支架，分别进行金相磨抛、氩离子抛光与FIB切割制样。...

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